[发明专利]制造状态采集分析装置

权利要求书

1.制造状态采集分析装置，其特征在于，包括壳体组件和分析组件，所述壳体组件包括上底板和外壳，所述上底板安装在外壳的顶面上，所述上底板开设有采集窗口，所述外壳中安装有相机，且所述相机与采集窗口正对，所述相机采集放置在采集窗口上在制品的DM码图像和明码图像；

所述分析组件用于采用特征融合算法分别提取在制品DM码图像的核心特征及明码图像的核心特征，将两个核心特征串联融合为复合特征，再将复合特征与样本库中的复合特征进行匹配，以进行决策识别；

或者所述分析组件采用匹配融合算法分别提取在制品DM码图像特征和明码图像特征，然后分别计算DM码图像特征与模板库中模板之间的匹配分数，以及计算明码图像特征与模板库中模板之间的匹配分数，最后将分别计算得到的匹配分数按照特定的方式结合起来，综合进行决策识别；

所述匹配融合算法具体包括：

计算DM码图像特征与模板库中各个模板之间的匹配分数，按从大到小的顺序排序后选取前M个记为{S(O₁|λ_i)}_{i＝1,2,...,M}，计算明码图像特征与模板库中各个模板之间的匹配分数，按从大到小的顺序排序后选取前M个记为{S(O₂|λ_i)}_{i＝1,2,...,M}；

采用自适应权重分配算法计算权重α和β，其中α+β＝1，按照下式计算根据加法规则加权融合后的匹配分数：

{S(O₁O₂|λ_i)}_{i＝1,2,...,M}＝α{S(O₁|λ_i)}_{i＝1,2,...,M}+β{S(O₂|λ_i)}_{i＝1,2,...,M}

按照上述融合后的匹配分数进行决策识别；

所述自适应权重分配算法为：将权重α以Δα的步长从初始值变化到1，对每一次变化后的α，计算融合后的匹配分数{S(O₁O₂|λ_i)}_{i＝1,2,...,M}，对其中的M个匹配分数按照从大到小的顺序排序，按照下式计算最大的两个匹配分数之间的差值：

ξ_1,2＝S(O₁O₂|λ₁)-S(O₁O₂|λ₂)

所有差值计算完毕后，找到其中最大的差值，与该最大差值对应的权重α以及β＝1-α即为最终的权重，即

2.如权利要求1所述的制造状态采集分析装置，其特征在于，所述上底板具有一个缺口，所述缺口中具有两个梯形的固定块，两个所述固定块的斜面相对形成V型槽，两个所述固定块之间的区域即为所述采集窗口；

所述上底板中穿设有平行的反向丝杆和滑杆，所述反向丝杆和滑杆均穿过所述缺口，同时所述反向丝杆和滑杆也均穿过两个所述固定块，两个所述固定块在所述滑杆上滑动，所述反向丝杆上的螺纹与两个所述固定块内部的螺纹螺接。

3.如权利要求1所述的制造状态采集分析装置，其特征在于，所述外壳内部安装有平行光控制器、电源插板、工业相机、同轴光控制器、同轴光源和平行光源，所述平行光控制器与平行光源电连接，所述同轴光控制器与同轴光源电连接，所述工业相机上安装有工业镜头，工业镜头位于所述上底板的缺口中央正下方，所述电源插板与外部电源连接，所述平行光控制器、电源插板、工业相机、同轴光控制器、同轴光源和平行光源的电源均取自所述电源插板。