[发明专利]多波束同频微波探测天线及其制造方法和检测方法

说明书

本发明公开了一多波束同频微波探测天线及其制造方法和检测方法，其中所述多波束同频微波探测天线具有一振荡电路单元，且所述多波束同频微波探测天线包括一参考地以及至少两个辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述辐射源被间隔地设置于所述参考地，并在每个所述辐射源和所述参考地之间分别形成一辐射缝隙，且所述辐射源的所述馈电点被电连接于所述振荡电路单元。

技术领域

本发明涉及微波天线领域，特别涉及一多波束同频微波探测天线及其制造方 法和检测方法。

背景技术

近年来，随着微波技术的发展，应用微波技术的产品也越来越多的出现在市 场上，比如说，微波探测器。常见的微波探测器能够发射微波，并接收反射回来 的微波信号，利用多普勒效应原理探测目标区域内是否有运动的物体。微波探测 器对反射微波的物体的移动具有较高的敏感度，并且，微波探测器产生的微波信 号不受环境温度和湿度等因素的影响，相较于红外线探测器而言，具有较高的可 靠性。因此，微波探测器被广泛应用于工业生产和我们的日常生活中，比如说， 车辆测速，超市自动门、自动灯、自动盥洗等。

现有的微波探测器利用一天线发射一特定频率的微波波束，以在一目标区域 内检测所述目标区域内的物体的运动状态，当遇到静止的物体时，所述天线接收 到的返回的微波的频率不变，当所述天线发出的微波遇到运动的物体时，所述天 线接收到的微波的频率发生变化，以供在后续根据频率的变化计算出物体的运动 状态，比如说物体的具体位置、移动速度、移动方向。但是，现有的微波探测器 在被应用于检测目标区域内的物体的运动状态的过程中，仍然存在不少问题。

首先，所述微波探测器产生的微波辐射到的区域固定，即，微波探测器的检 测区域有限，仅仅利用一个所述天线难以全面地检测所述目标区域内的物体的运 动状态，进而会影响检测结果的准确性。

其次，尽管借助两个或以上数量的所述微波探测器能够扩大所述微波探测器 的检测区域，即通过增加微波探测器数量，并将不同的所述微波探测器分布于不 同的位置，来扩大检测区域，如通过多个微波探测器以分层、分区间、分角度的 的方式覆盖不同的探测空间，以实现对探测空间的分层、分区间、分角度的探测， 从而获取移动物体于探测空间的位置和分布，并依此计算移动物体的移动轨迹、 移动方向和移动速度等信息，进而实现对移动物体的轨迹预测、行为目的判断和 状态判断。然而，需要计算多个所述微波探测器发射的微波和接收的微波的频率 变化才能判断所述目标区域内的物体的运动状态，所述微波探测器的数量越多， 必然需要复杂的信号传输与连接，计算的数据以及算法就越复杂，并且需要配置 额外的信息处理中心，增加了成本的同时难以准确获得所述目标区域内的物体的 运动状态。

另外，在现有技术中，被设置于不同区域内的所述微波探测器具有各自独立 的电路，不同微波探测器的电路通过电线被接入到外部的电路中，通过变化的电 场产生变化的磁场，而变化的磁场又产生变化的电场，这样，变化的电场和变化 的磁场相互依赖，并且相互激发，而且变化的电场和变化的磁场交替产生，进而 产生了微波，且所述天线向外辐射微波。但是由于不同电路中的电器元件的参数 存在差异，所述微波探测器向外辐射的微波的频率难以实现一致和同步，当不同 的微波探测器对同一个目标区域进行检测时，一方面各微波探测器所发射的微波 会相互干扰，另一方面，不同微波探测器辐射的微波的检测区域出现重合时，在 重合区域内，各微波探测器所发射的微波的频率难以一致，或即便频率一致也可 能会出现一个天线辐射的微波处于波峰，另一个天线辐射的微波处于波谷类的相 位不一致的状况，在后续的计算过程中，需要运用繁琐的算法来解决接收到的微 波的频率的相关参数，比如说，要计算接收到的不同的所述微波的频率差的参数。 这样，更加增大了获得所述目标区域内的物体的运动状态的难度。而且，在现阶 段中，本领域技术人员难以得到准确的算法，同时复杂的计算逻辑会造成所述微 波探测器的计算时间较长，造成获取所述目标区域内的物体的运动状态的时间被 滞后，进而影响所述微波探测器在检测所述目标区域内的物体运动时的准确性。