[发明专利]多波束同频微波探测天线及其制造方法和检测方法

权利要求书

1.一多波束同频微波探测天线，其特征在于，所述多波束同频微波探测天线具有一振荡电路单元，且所述多波束同频微波探测天线包括：

一参考地；以及

至少两个辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述辐射源被间隔地设置于所述参考地，并在每个所述辐射源和所述参考地之间分别形成一辐射缝隙，且所述辐射源的所述馈电点被电连接于所述振荡电路单元。

2.根据权利要求1所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括一基板，其中所述参考地被设置于所述基板的一侧，所述基板能够发生形变，以改变所述参考地的延伸方向。

3.根据权利要求2所述的多波束同频微波探测天线，其中所述基板为柔性可变形的PCB板。

4.根据权利要求2所述的多波束同频微波探测天线，其中所述参考地包括和所述辐射源数量对应的一参考地主体，其中所述辐射源被间隔地设置于所述参考地主体，并在每个所述辐射源和对应的所述参考地主体之间分别形成所述辐射缝隙，所述参考地主体被设置于所述基板，通过所述基板发生形变的方式能够改变所述参考地主体的延伸方向。

5.根据权利要求4所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括与所述参考地主体数量相对应的一屏蔽罩，所述屏蔽罩和所述参考地主体分别被保持于所述基板相对的两侧。

6.根据权利要求4所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括与所述参考地主体数量相对应的一屏蔽罩，所述屏蔽罩和所述参考地主体分别被保持于所述基板的同一侧。

7.根据权利要求5或6所述的多波束同频微波探测天线，其中各所述参考地主体相互电性连接。

8.根据权利要求5或6所述的多波束同频微波探测天线，其中各所述参考地主体一体成型为一整体导电金属层。

9.根据权利要求4所述的多波束同频微波探测天线，其中所述基板包括一第一基板和多第二基板，多个所述第二基板相互间隔地延伸于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第二基板，其中所述第一基板和每个所述第二基板之间的角度能够被调节。

10.根据权利要求1所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括一基板和一柔性连接件，所述基板包括一第一基板和至少一第二基板，所述参考地包括和所述辐射源数量对应的一参考地主体，至少一个所述参考地主体被设置于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第二基板，所述柔性连接件的两端分别被连接所述第一基板和所述第二基板，且所述柔性连接件分别被电连接对应于所述第一基板的所述参考地主体和对应于所述第二基板的所述参考地主体，所述柔性连接件发生变形时，被连接于所述柔性连接件的所述第一基板和/或所述第二基板的延伸方向被改变。

11.根据权利要求9或10所述的多波束同频微波探测天线，其中所述第一基板为PCB板，所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

12.根据权利要求9或10所述的多波束同频微波探测天线，其中所述第一基板和所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

13.根据权利要求1至12任一所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括一反射件，其中所述反射件具有一反射面，所述反射件被设置于所述参考地，所述反射件的所述反射面和所述辐射源之间形成夹角，且所述反射件的所述反射面能够改变所述辐射源产生的微波波束的辐射角度和方向。

14.根据权利要求13所述的多波束同频微波探测天线，其中所述反射件被可活动地设置于所述参考地。

15.根据权利要求13所述的多波束同频微波探测天线，其中所述反射件的长度大于等于所述辐射源的边长的长度。