[发明专利]一种LCD缺陷检测方法

说明书

本发明公开了一种LCD缺陷检测方法，其通过对采集的原始图像进行图像增强后得到第一增强图像；对第一增强图像进行纹理滤除和标准均值转换得到标准化灰阶图像；计算标准化灰阶图像滑动矩形框内的灰度范围得到灰度差图像，对灰度差图像进行图像增强得到第二增强图像；计算第二增强图像的灰度直方图，并利用灰度直方图计算分割阈值，依据分割阈值判别第二增强图像的缺陷并进行标记，从而检测出原始图像的缺陷及缺陷类别，实现LCD面板的点、线和mura缺陷的同步和快速检测。

技术领域

本发明属于模组测试领域，具体涉及一种LCD缺陷检测方法。

背景技术

液晶显示器是由一定数量的彩色或黑白像素组成的平面超薄显示设备，放置于光源或者反射面前方，如果给液晶施加一个电场，会改变它的分子排列，这时如果给它配合偏振光片，它就具有阻止光线通过的作用，即在不施加电场时光线可以顺利透过，如果再配合彩色滤光片，改变加给液晶电压大小，就能改变某一颜色透光量的多少，也可以形象地说改变液晶两端的电压就能改变它的透光度。

随着LCD液晶面板的批量生产，越来越需要对LCD液晶面板的生产质量进行检测。LCD面板缺陷主要分为点缺陷、线缺陷和mura类缺陷。其中，点缺陷又分为亮点和暗点；线缺陷又分为垂直，水平和斜线缺陷；mura类缺陷会细分为多类缺陷，因此，LCD面板检测中，需要针对这些缺陷进行相应的检测。

现有的大多方案是针对每类缺陷对应一个检测算法逻辑，比如，将总体缺陷分为点状缺陷和区域状异物分开检测，或者只针对特定类别的缺陷如斑痕缺陷检测，导致检测算法逻辑关系复杂，影响操作，同一个LCD液晶面板则需要分别进行点、线和mura缺陷的检测；同时，算法检测逻辑越多则相应的节拍时间越长，导致相应的检测时长增加，从而影响LCD液晶面板的生产效率。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种LCD缺陷检测方法，其通过对原始图像进行拟合、纹理滤除、标准均值转换、灰度差计算、图像增强、灰度直方图计算和分割阈值计算后，依据分割阈值判别第二增强图像的缺陷并进行标记，从而检测出原始图像的缺陷及缺陷类别。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种LCD缺陷检测方法，具体步骤为：

S1.对采集的原始图像进行图像增强后得到第一增强图像；

S2.对第一增强图像进行纹理滤除和标准均值转换得到标准化灰阶图像；

S3.计算标准化灰阶图像滑动矩形框内的灰度范围得到灰度差图像，对灰度差图像进行图像增强得到第二增强图像；

S4.计算第二增强图像的灰度直方图，并利用灰度直方图计算分割阈值，依据分割阈值判别第二增强图像的缺陷并进行标记，从而检测出原始图像的缺陷及缺陷类别。

作为本发明的进一步改进，步骤S1中利用多项式曲面拟合原始图像得到第一增强图像。

作为本发明的进一步改进，步骤S1中利用二项式曲面拟合原始图像得到第一增强图像，二项式曲面拟合公式为：

f(r,c)＝A(r-r_center)²+B(c-c_center)²+C(r-r_center)(c-c_center)+D(r-r_center)

+E(c-c_center)+Z

式中，f(r,c)为第一增强图像的灰度函数，r和c分别为像素点所对应的行和列，

A、B、C、D、E和Z分别为二项式曲面拟合公式的第一、第二、第三、第四、第五和第六逼近参数，r_center和c_center分别代表原始图像中心点所对应的行和列。