[发明专利]一种LCD缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201811555101.X 申请日: 2018-12-18
公开(公告)号: CN109727233B 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 马新伍;罗巍巍;张胜森;郑增强 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/136;G02F1/13
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 李佑宏
地址: 430070 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 lcd 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,具体步骤为:

S1.对采集的原始图像进行图像增强后得到第一增强图像;

S2.对第一增强图像进行纹理滤除和标准均值转换得到标准化灰阶图像;

S3.计算标准化灰阶图像滑动矩形框内的灰度范围得到灰度差图像,对灰度差图像进行图像增强得到第二增强图像,灰度范围为滑动矩形框内最大灰度值与最小灰度值的差值;

S4.计算第二增强图像的灰度直方图,并利用灰度直方图计算分割阈值,依据分割阈值判别第二增强图像的缺陷并进行标记,从而检测出原始图像的缺陷及缺陷类别。

2.根据权利要求1所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1中利用多项式曲面拟合原始图像得到第一增强图像。

3.根据权利要求2所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1中利用二项式曲面拟合原始图像得到第一增强图像,二项式曲面拟合公式为:

f(r,c)=A(r-rcenter)2+B(c-ccenter)2+C(r-rcenter)(c-ccenter)+D(r-rcenter)+E(c-ccenter)+Z

式中,f(r,c)为第一增强图像的灰度函数,r和c分别为像素点所对应的行和列,A、B、C、D、E和Z分别为二项式曲面拟合公式的第一、第二、第三、第四、第五和第六逼近参数,rcenter和ccenter分别代表原始图像中心点所对应的行和列。

4.根据权利要求3所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,通过最小二乘法求取二项式曲面拟合公式的第一、第二、第三、第四、第五和第六逼近参数A、B、C、D、E和Z。

5.根据权利要求3所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2中采用双边滤波对第一增强图像进行纹理滤除得到双边滤波图像,双边滤波图像的灰度值函数为:

式中,Sr,c表示中心点为(r,c)滑动矩形框内所有像素点坐标集合,w(i,j)为双边滤波权值函数,滑动矩形框的大小为(2N+1)*(2N+1),N为滑动矩形框的调节参数。

6.根据权利要求5所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,标准化灰阶图像的灰度值函数为:

f2(r,c)=f1(r,c)-mean[f1(r,c)]+M

式中,mean[f1(r,c)]表示双边滤波图像内中心点为(r,c)的滑动窗口的灰度平均值,M为一般标准灰阶。

7.根据权利要求6所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,步骤S3中灰度差图像的灰度值函数为:

f3(r,c)=max[f2(i,j)]-min[f2(i,j)],其中,(i,j)∈Sr,c。

8.根据权利要求7所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,对灰度差图像进行平方变换得到第二增强图像,第二增强图像的灰度值函数为:f4(r,c)=f32(r,c)。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,第二增强图像的灰度直方图的计算公式为:

式中,rk为第二增强图像的灰度级,nk为第二增强图像中为rk的像素个数,Q为第二增强图像的像素总数,p(rk)为灰度直方图函数。

10.根据权利要求9所述的一种LCD缺陷检测方法,其特征在于,灰度直方图对应的分割阈值为:Th=min[max(rk)]。

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