[发明专利]电磁图像提取方法、装置、计算机设备和存储介质有效
申请号: | 201811542900.3 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN109727295B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 赖灿雄;方文啸;洪子扬;骆成阳 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00;G06T7/155;G06K9/62 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黄隶凡 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁 图像 提取 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
本申请涉及一种电磁图像提取方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取通过近场表面扫描待测物表面得到的电磁场原始图像数据,电磁场原始图像数据为近场表面扫描待测物表面在各个频点下的发射值;将电磁场原始图像数据中各个频点的发射值,根据频点分别存储为对应每个频点的发射值矩阵;对每个频点的发射值矩阵分别求标准差;根据预设的标准差阈值对各个频点的发射值矩阵进行筛选,提取出待测物在特定频点的发射值矩阵;根据待测物在特定频点的发射值矩阵生成待测物的电磁图像。采用本方法能够对扫描获得的原始图像数据进行自动提取,无需手动检查特定频点进行提取。
技术领域
本申请涉及近场表面扫描技术领域,特别是涉及一种电磁图像提取方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
近场表面扫描是目前用于对板极产品及器件级产品进行电磁兼容测试的一种常用技术,测试方法是通过电磁场探头获得待测物表面近场区域内的电磁场分布,可以用于进行电磁干扰定位及评价等。
近场表面扫描测试一般通过频谱仪在一定的区域范围内驻点收集待测物的在不同频点下的电磁发射信号,直到所有的扫描点历遍,但所收集到的信号除了测试所需要的待测物的有意电磁发射信号外,还包括背景噪声,因此需要将所需要的待测物的有意电磁发射信号提取出来。
由于待测物的电磁发射只发生在特定频点上,其他频点均为背景噪声信号,传统的方法是通过手动检查的方式找到这些特定频点,提取出这些特定频点下的数据。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种电磁图像提取方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种电磁图像提取方法,方法包括:
获取通过近场表面扫描待测物表面得到的电磁场原始图像数据,电磁场原始图像数据为近场表面扫描待测物表面在各个频点下的发射值;
将电磁场原始图像数据中各个频点的发射值,根据频点分别存储为对应每个频点的发射值矩阵;
对每个频点的发射值矩阵分别求标准差;
根据预设的标准差阈值对各个频点的发射值矩阵进行筛选,提取出待测物在特定频点的发射值矩阵;
根据待测物在特定频点的发射值矩阵生成待测物的电磁图像。
在其中一个实施例中,根据预设的标准差阈值对各个频点的发射值矩阵进行筛选包括:
从各个频点的发射值矩阵中,筛选出标准差大于标准差阈值的发射值矩阵。
在其中一个实施例中,电磁图像提取方法还包括:
对待测物在每个特定频点的发射值矩阵分别进行降维处理;
对降维后的待测物在每个特定频点的发射值矩阵进行聚类,得到待测物电磁图像的聚类结果。
在其中一个实施例中,对待测物在每个特定频点的发射值矩阵分别进行降维处理包括:
将待测物在全部特定频点的发射值矩阵重组为输入矩阵;
对输入矩阵进行形态学分割处理,获得二值化矩阵;
对二值化矩阵进行降维处理。
在其中一个实施例中,对待测物特定频点的发射值矩阵进行降维处理包括:
采用主成分分析法对待测物在每个特定频点的发射值矩阵进行降维处理。
在其中一个实施例中,对降维后的待测物特定频点的发射值矩阵进行聚类包括:
采用K-Means聚类法对待测物在每个特定频点的发射值矩阵进行聚类。
在其中一个实施例中,电磁图像提取方法还包括:
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