[发明专利]电磁图像提取方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种电磁图像提取方法，其特征在于，所述方法包括：

获取通过近场表面扫描待测物表面得到的电磁场原始图像数据，所述电磁场原始图像数据为近场表面扫描所述待测物表面在各个频点下的电磁信号发射值；

将所述电磁场原始图像数据中各个频点的电磁信号发射值，根据频点分别存储为对应每个频点的发射值矩阵；

对每个频点的发射值矩阵分别求标准差；

根据预设的标准差阈值对各个频点的发射值矩阵进行筛选，筛选出标准差达到所述标准差阈值的发射值矩阵，作为所述待测物在特定频点的发射值矩阵；

根据所述待测物在特定频点的发射值矩阵生成所述待测物的电磁图像。

2.根据权利要求1项所述的电磁图像提取方法，其特征在于，还包括：

对所述待测物在每个特定频点的发射值矩阵分别进行降维处理；

对降维后的所述待测物在每个特定频点的发射值矩阵进行聚类，得到所述待测物电磁图像的聚类结果。

3.根据权利要求2所述的电磁图像提取方法，其特征在于，对所述待测物在每个特定频点的发射值矩阵分别进行降维处理包括：

将所述待测物在各个特定频点的发射值矩阵重组为输入矩阵；

对所述输入矩阵进行形态学分割处理，获得二值化矩阵；

对所述二值化矩阵进行降维处理。

4.根据权利要求2所述的电磁图像提取方法，其特征在于，对所述待测物特定频点的发射值矩阵进行降维处理包括：

采用主成分分析法对所述待测物在每个特定频点的发射值矩阵进行降维处理。

5.根据权利要求2所述的电磁图像提取方法，其特征在于，对降维后的所述待测物特定频点的发射值矩阵进行聚类包括：

采用K-Means聚类法对所述待测物在每个特定频点的发射值矩阵进行聚类。

6.根据权利要求5所述的电磁图像提取方法，其特征在于，还包括：

利用所述待测物的电磁图像的聚类结果建立电磁测试模型。

7.一种电磁图像提取装置，其特征在于，所述装置包括：

原始图像数据获取模块，用于获取通过近场表面扫描待测物表面得到的电磁场原始图像数据，所述电磁场原始图像数据为近场表面扫描所述待测物表面在各个频点下的发射值；

数据矩阵化模块，用于将所述电磁场原始图像数据中各个频点的发射值，根据频点存储为对应频点的发射值矩阵；

标准差处理模块，用于对每个频点的发射值矩阵分别求标准差；

筛选模块，用于根据预设的标准差阈值对各个频点的发射值矩阵进行筛选，筛选出标准差达到所述标准差阈值的发射值矩阵，作为所述待测物在特定频点的发射值矩阵；

图像生成模块，用于根据所述待测物在特定频点的发射值矩阵生成所述待测物的电磁图像。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。