[发明专利]一种光电稳定平台通用测试平台及方法在审

专利信息
申请号: 201811537661.2 申请日: 2018-12-15
公开(公告)号: CN111323045A 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 张明月;张宏巍;刘慧 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01D21/02;G05B23/02
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电 稳定 平台 通用 测试 方法
【说明书】:

发明公开了光电稳定平台通用测试平台及方法,该测试平台包括:光学平台、器件测试平台、高性能电机驱动器、电源、宿主机、目标机、数据采集卡和串口卡;所述器件测试平台包括系统底座、惯量块、电机及其安装轴、陀螺及其支撑机构、导电滑环、编码器及其支撑机构。本发明的测试平台能够分别对光电稳定平台中陀螺、编码器、电机、控制算法等进行测试,也可以对多个器件和算法进行综合测试,具有良好的通用性,可以快速的实现器件和算法测试及功能验证,易于调试,缩短了开发时间,节省了成本。

技术领域

本发明属于测试平台领域,尤其涉及一种光电稳定平台通用测试平台及方法。

背景技术

光电稳定平台是导引头的主要组成部分,其主要功能是利用惯性传感器的空间稳定功能,隔离导弹的扰动,使得光电探测器的光轴指向稳定,其性能直接影响导引头的制导精度。在进行导引头光电稳定平台样机实际调试之前,通过理论设计和选型,已经确定了光电稳定平台的主要器件:电机、陀螺、编码器,其中电机用来提供稳定平台的俯仰偏航力矩,陀螺作为惯性传感器用来反馈系统速度信息,编码器用来反馈系统位置信息。

以往的系统测试,通常是将各种器件和结构装配完后进行整体调试,由于系统非线性严重,且涉及到器件多,对单个器件和算法没有一定测试经验积累的情况下,该整体调试法延长了系统研发的周期;并且如果单个器件不匹配,导致系统出现问题,不能进行及时排查问题所在,降低了开发效率。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种线性度好的通用的光电稳定平台器件测试通用平台及方法,解决了现有测试平台只能对装配完后的器件整体进行测试而导致非线性严重、不能对控制器算法进行验证、不能通用于各种器件测试的问题。

为了实现上述目的,本发明实施例提供的技术方案如下:

一种光电稳定平台通用测试平台,包括光学平台,光学平台上安装有器件测试平台,器件测试平台连接有目标机,目标机内安装有数据采集卡和串口卡,目标机通过数据线连接有宿主机,目标机的输出端连接有电机驱动器,电机驱动器与器件测试平台连接。

作为本发明的优选方案,所述器件测试平台包括底座,底座安装于光学平台上,底座上安装有支撑架,支撑架上分别安装有导电滑环、陀螺、电机和编码器,陀螺上连接有惯量块,导电滑环与陀螺电连接;导电滑环、电机、编码器均与目标机电连接。

本发明还提供一种光电稳定平台通用测试方法,包括以下步骤:

a)装配:将目标器件安装到器件测试平台上,将器件测试平台安装在光学平台上,将器件测试平台与目标机连接,目标机与宿主机连接;目标器件连接目标机内的串口卡,目标器件两端加上电源;

b)待测性能测试:在宿主机上搭建用于生成XPC实时内核的Simulink模型,根据所用的串口卡的类型选择对应的Simulink模块,并进行配置,根据数据传输协议搭建解码模型;采用XPCTarget技术生成实时内核,运行得到特定目标器件的动静态特性或输出信息;在MATLAB中进行分析得到待测性能的具体特性,对待测性能的具体特性进行评价。

作为本发明的优选方案,在步骤a)中根据所采用的目标器件的通讯协议选择串口卡。

作为本发明的优选方案,待测性能为编码器性能时:

在步骤a)中,目标器件为编码器;

在步骤b)中,采用XPCTarget技术生成实时内核,运行得到编码器的动静态特性;在MATLAB中进行分析得到编码器动静态数据,对编码器性能进行评价。

作为本发明的优选方案,待测性能为陀螺性能时:

在步骤a)中,目标器件为陀螺和导电滑环,陀螺和导电滑环均安装于器件测试平台上,陀螺与导电滑环电连接,导电滑环连接目标机内的串口卡,陀螺两端加上电源;

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