[发明专利]低雷诺数条件的等离子体合成射流激励器有效
申请号: | 201811532947.1 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN109618481B | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 李彪;周德力;蔡伟华 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | H05H1/30 | 分类号: | H05H1/30;B64C23/00 |
代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 刘景祥 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 雷诺数 条件 等离子体 合成 射流 激励 | ||
1.一种低雷诺数条件的等离子体合成射流激励器,其特征是:包括激励器放电腔(4)、激励器缓冲腔(2)、阴极放电电极(6)、阳极放电电极(5)和耐热硅胶,激励器放电腔(4)放置于激励器缓冲腔(2)内;
激励器放电腔(4)为空心圆柱体,激励器缓冲腔(2)为空心柱体或者横截面为多边形几何截面的空心柱体,激励器放电腔(4)与激励器缓冲腔(2)的间隔板上设有四个环形阵列分布的高速射流孔(3),激励器缓冲腔(2)上壁设有三个环形阵列分布的低速射流孔(1)或者缝开口;
所述激励器放电腔(4)的底部分别插入阴极放电电极(6)和阳极放电电极(5),采用耐热硅胶将阴极放电电极(6)和阳极放电电极(5)固定和密封,所述激励器放电腔(4)的体壁和耐热硅胶均为绝缘材质。
2.一种如权利要求1所述的低雷诺数条件的等离子体合成射流激励器工作方法,其特征是:包括以下步骤:
步骤一:激励器放电腔(4)内的气体在阴极放电电极(6)和阳极放电电极(5)放电作用下加热,使得激励器放电腔(4)内的气体变为高压气体;
步骤二:所述高压气体通过高速射流孔(3)射出到激励器缓冲腔(2)内,高速射流得到减速变为低速气体;
步骤三:所述低速气体通过低速射流孔(1)射出到外界;
步骤四:一次放电结束后,外界气体通过低速射流孔(1)和高速射流孔(3)进入激励器使得激励器内部气体参数恢复至放电前,一个工作循环结束。
3.根据权利要求2所述的工作方法,其特征是:通过改变激励器缓冲腔(2)的形状、尺寸和内部导流结构,以及低速射流孔(1)的形状和尺寸调节射出到外界的低速气体的气体速度和射流方向。
4.根据权利要求2所述的工作方法,其特征是:低速射流孔(1)射出孔口特征尺度下Re不大于10^6的低速射流。
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