[发明专利]识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端

说明书

本发明公开了一种识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端，该方法包括：获取芯片的配置信息；生成与所述配置信息对应的校验信息，并产生校验状态信号；根据所述校验信息和所述校验状态信号，检测所述芯片是否受到激光故障注入。所述装置包括：获取模块、校验位生成模块和检测验证模块。本发明的方案，根据生成的与配置信息对应的校验信息，以及校验状态信号，检测芯片是否受到激光故障注入，可以识别出芯片是否受到攻击，从而可以对芯片中的配置信息进行保护，避免造成重大损失。

技术领域

本发明属于电子计算机技术领域，具体涉及一种识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端，具体涉及一种防激光攻击的配置信息保护方法、装置、存储介质及终端。

背景技术

芯片（又称为“集成电路”）的应用范围非常广泛， 在芯片设计中，需要根据芯片的实际应用场景为芯片设置相应的配置信息。配置信息用于区分产品方向、特性等以适用于不同的应用场景，配置信息通常存储在NVM（ Non-Volatile Memory，非易失存储器）中。其中一些配置信息会作为芯片特殊功能开启或者关闭的条件，芯片特殊功能开启或者关闭的条件对应的配置信息可以称之为敏感配置信息。在上电的过程中，敏感配置信息经软硬件操作从NVM获取并存储在寄存器当中，如果这些敏感配置信息被黑客获取，会实现对芯片的攻击，造成重大损失。

芯片的实现材料是硅半导体以及少量掺杂元素，其中N 型半导体带有电子，P 型半导体带有空穴，电子空穴在共价键中处于束缚状态。当给电子提供足够的能量，就会脱离束缚变成自由的电子。由于半导体的能量吸收与材质、光的波长、以及光的强度等因素有关。当硅半导体吸收特定波长的光子达到一定程度后，电子将脱离共价键束缚变成自由电子，这样会使芯片的CMOS（Metal-Oxide-Semiconductor，金属-氧化物-半导体）晶体管导通，产生非正常的数据输出，从而达到故障注入的目的。黑客可通过激光故障注入的方式改变存储在寄存器中的配置信息（特别是敏感配置信息），使得运行芯片的系统变得薄弱，导致芯片的一些防护功能被打开或者是弱化，黑客获取到配置信息。

然而，在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中，没有存在识别芯片是否受到了激光故障注入攻击的方法，无法对芯片的配置信息进行保护。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述缺陷，提供一识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端，以解决现有技术中没有存在识别芯片是否受到了激光故障注入的攻击问题，达到对芯片的配置信息进行保护的效果。

本发明提供一种识别激光故障注入攻击的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取芯片的配置信息；

生成与所述配置信息对应的校验信息，并产生校验状态信号；

根据所述校验信息和所述校验状态信号，检测所述芯片是否受到激光故

障注入。

进一步地，获取芯片的配置信息，包括：

获取预设使能信号控制模块产生的配置信息更新使能信号；

通过NVM读写控制单元，从NVM中读取所述芯片的配置信息；

将所述芯片的配置信息存储在预设寄存器组。

进一步地，生成与所述配置信息对应的校验信息，并产生校验状态信号，包括：

获取所述预设使能信号控制模块产生的校验信息生成使能信号；

根据所述预设寄存器组的配置信息，生成与所述配置信息对应的校验信息；

获取所述预设使能信号控制模块产生的校验信息锁存使能信号，将所述校验信息锁存在预设校验信息存储模块，并产生所述校验状态信号。