[发明专利]识别激光故障注入攻击的方法、装置、存储介质及终端

权利要求书

1.一种识别激光故障注入攻击的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取芯片的配置信息；

生成与所述配置信息对应的校验信息，并产生校验状态信号；

根据所述校验信息和所述校验状态信号，检测所述芯片是否受到激光故

障注入；

获取芯片的配置信息，包括：

获取预设使能信号控制模块产生的配置信息更新使能信号；

通过NVM读写控制单元，从NVM中读取所述芯片的配置信息；

将所述芯片的配置信息存储在预设寄存器组；

生成与所述配置信息对应的校验信息，并产生校验状态信号，包括：

获取所述预设使能信号控制模块产生的校验信息生成使能信号；

根据所述预设寄存器组的配置信息，生成与所述配置信息对应的校验信息；

获取所述预设使能信号控制模块产生的校验信息锁存使能信号，将所述校验信息锁存在预设校验信息存储模块，并产生所述校验状态信号；

根据所述校验信息和所述校验状态信号，检测所述芯片是否受到激光故障注入，包括：

获取所述预设使能信号控制模块产生的校验使能信号；

判断所述校验状态信号是否有效；

当所述校验状态信号有效，且所述校验信息满足预设第一校验条件时，确定所述芯片中的所述预设寄存器组、或所述预设校验信息存储模块受到激光故障注入；

当所述校验状态信号无效，且所述校验信息满足预设第二校验条件时，确定所述芯片中的所述预设使能信号控制模块受到激光故障注入；

当所述校验状态信号有效，且所述校验信息满足预设第三校验条件时，确定所述芯片中的所述预设寄存器组、所述预设校验信息存储模块和所述预设使能信号控制模块受到激光故障注入。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述校验信息和所述校验状态信号，检测所述芯片是否受到激光故障注入之后，还包括：

当检测所述芯片受到激光故障注入时，使所述芯片进入安全模式并复位。

3.一种识别激光故障注入攻击的装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取芯片的配置信息；

校验位生成模块，用于生成与所述配置信息对应的校验信息，并产生校验

状态信号；

检测验证模块，用于根据所述校验信息和所述校验状态信号，检测所述芯片是否受到激光故障注入；

所述获取模块包括：

更新使能信号获取单元，用于获取预设使能信号控制模块产生的配置信息更新使能信号；

读取单元，用于通过NVM读写控制模块，从NVM中读取所述芯片的配置信息；

存储单元，用于将所述芯片的配置信息存储在预设寄存器组；

所述校验位生成模块包括：

校验信息生成使能信号获取单元，用于获取所述预设使能信号控制模块产生的校验信息生成使能信号；

校验信息生成单元，用于根据所述预设寄存器组的配置信息，生成与所述配置信息对应的校验信息；

校验状态信号生成单元，用于获取所述预设使能信号控制模块产生的校验信息锁存使能信号，将所述校验信息锁存在预设校验信息存储模块，并产生所述校验状态信号；

所述检测验证模块包括：

校验使能信号获取单元，用于获取所述预设使能信号控制模块产生的校验使能信号；

判断单元，用于判断所述校验状态信号是否有效；

第一激光故障注入确定单元，用于当所述校验状态信号有效，且所述校验信息满足预设第一校验条件时，确定所述芯片中的所述预设寄存器组、或所述预设校验信息存储模块受到激光故障注入；

第二激光故障注入确定单元，用于当所述校验状态信号无效，且所述校验信息满足预设第二校验条件时，确定所述芯片中的所述预设使能信号控制模块受到激光故障注入；

第三激光故障注入确定单元，用于当所述校验状态信号有效，且所述校验信息满足预设第三校验条件时，确定所述芯片中的所述预设寄存器组、所述预设校验信息存储模块和所述预设使能信号控制模块受到激光故障注入。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

处理保护模块，用于当所述检测验证模块检测所述芯片受到激光故障注入时，使所述芯片进入安全模式并复位。