[发明专利]数据处理方法及装置

权利要求书

1.一种数据处理装置，其特征在于，所述装置包括：

级联的多个处理芯片，每个处理芯片包括多个处理单元；

主控芯片，连接到所述多个处理芯片，所述主控芯片被配置为：

在所述多个处理芯片的温度值处于预设的第一温度区间内、且工作在初始频率下时，将所述多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率，所述第一预设频率是多个预设频率中的第一个；

控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态；

在所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态正确时，将所述多个处理芯片的工作频率提高到下一个预设频率；

在所述多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M-1个预设频率下的处理状态正确时，将第M-1个预设频率确定为所述多个处理芯片的目标工作频率，其中，M为大于1的整数；

其中，所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态，包括：

向所述多个处理芯片发送测试指令，所述测试指令用于指示所述多个处理芯片进行处理功能测试；

获取各个处理芯片响应于所述测试指令所返回的功能报告；

根据多个处理芯片的功能报告，确定所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每个处理芯片还包括数据检查单元，所述多个处理芯片中的每个处理芯片被配置为：

在接收到所述测试指令时，向所述多个处理单元发送测试数据，以使所述多个处理单元对所述测试数据进行运算；

获取所述多个处理单元的运算结果；

通过所述数据检查单元对所述多个处理单元的运算结果进行检查，得到所述功能报告；

向所述主控芯片发送所述功能报告。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态，包括：

向所述多个处理芯片发送测试数据，以使各个处理芯片的多个处理单元对所述测试数据进行运算；

获取各个处理芯片对所述测试数据进行运算所得到的运算结果；

对所述多个处理芯片的运算结果进行分析，确定所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每个处理芯片还包括温度检测单元，所述多个处理芯片中的每个处理芯片被配置为：

获取所述处理芯片的温度检测单元检测到的温度值；

将检测到的温度值发送至所述主控芯片。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述多个处理芯片中的每个处理芯片还被配置为：

在所述处理芯片的温度值超出预设的第二温度区间时，产生温度报警信号；

向所述主控芯片发送所述温度报警信号。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主控芯片还被配置为：

在所述多个处理芯片的温度值超出所述第一温度区间时，调整所述数据处理装置的散热模块的运行速率。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

温度检测模块，用于对所述多个处理芯片的温度进行检测，并将检测到的所述多个处理芯片的温度值发送至所述主控芯片。

8.一种数据处理方法，其特征在于，所述方法应用于数据处理装置，所述数据处理装置包括级联的多个处理芯片和主控芯片，每个处理芯片包括多个处理单元，所述主控芯片连接到所述多个处理芯片，所述方法包括：

所述主控芯片在所述多个处理芯片的温度值处于预设的第一温度区间内、且工作在初始频率下时，将所述多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率，所述第一预设频率是多个预设频率中的第一个；

所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态；

所述主控芯片在所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态正确时，将所述多个处理芯片的工作频率提高到下一个预设频率；

所述主控芯片在所述多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M-1个预设频率下的处理状态正确时，将第M-1个预设频率确定为所述多个处理芯片的目标工作频率，其中，M为大于1的整数；

其中，所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态，包括：

向所述多个处理芯片发送测试数据，以使各个处理芯片的多个处理单元对所述测试数据进行运算；

获取各个处理芯片对所述测试数据进行运算所得到的运算结果；

对所述多个处理芯片的运算结果进行分析，确定所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态。