[发明专利]数据处理方法及装置

说明书

本公开涉及一种数据处理方法及装置。该装置包括：主控芯片，在确定装置的多个处理芯片的温度值处于第一温度区间内、且工作在初始频率下时，将多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率；控制多个处理芯片分别进行处理功能测试，并在确定多个处理芯片在第一预设频率下的处理状态正确时，将工作频率提高到下一个预设频率；在多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M‑1个预设频率下的处理状态正确时，将第M‑1个预设频率确定为目标工作频率。本公开实施例所提供方法及装置，可以快速地确定多个处理芯片在第一温度区间内的目标工作频率，并使得多个处理芯片能在第一温度区间内按照目标工作频率正确、稳定的运行。

技术领域

本公开涉及电子技术领域，尤其涉及一种数据处理方法及装置。

背景技术

随着电子技术及计算机技术的不断发展，单个处理芯片的运算能力已经无法满足日益增长的运算需求。在相关技术中，可以将多个处理芯片级联在一起，以满足运算需求。但由于将多个处理芯片级联在一起，如何控制多个处理芯片能够正确、稳定、高效的运行成为亟待解决的问题。

发明内容

根据本公开的一方面，提供了一种数据处理装置，所述装置包括：

级联的多个处理芯片，每个处理芯片包括多个处理单元；

主控芯片，连接到所述多个处理芯片，所述主控芯片被配置为：

在所述多个处理芯片的温度值处于预设的第一温度区间内、且工作在初始频率下时，将所述多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率，所述第一预设频率是多个预设频率中的第一个；

控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态；

在所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态正确时，将所述多个处理芯片的工作频率提高到下一个预设频率；

在所述多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M-1个预设频率下的处理状态正确时，将第M-1个预设频率确定为所述多个处理芯片的目标工作频率，

其中，M为大于1的整数。

对于上述装置，在一种可能的实现方式中，所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态，包括：

向所述多个处理芯片发送测试指令，所述测试指令用于指示所述多个处理芯片进行处理功能测试；

获取各个处理芯片响应于所述测试指令所返回的功能报告；

根据多个处理芯片的功能报告，确定所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态。

对于上述装置，在一种可能的实现方式中，每个处理芯片还包括数据检查单元，所述多个处理芯片中的任意一个处理芯片被配置为：

在接收到所述测试指令时，向所述多个处理单元发送测试数据，以使所述多个处理单元对所述测试数据进行运算；

获取所述多个处理单元的运算结果；

通过所述数据检查单元对所述多个处理单元的运算结果进行检查，得到所述功能报告；

向所述主控芯片发送所述功能报告。

对于上述装置，在一种可能的实现方式中，所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试，确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态，包括：

向所述多个处理芯片发送测试数据，以使各个处理芯片的多个处理单元对所述测试数据进行运算；

获取各个处理芯片对所述测试数据进行运算所得到的运算结果；