[发明专利]弹体支点判定方法、装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种弹体支点判定方法，其特征在于，应用于导弹，包括：

获取输入的导弹的多个舱段的起始坐标x_i、最后一段舱段的终止坐标、所述多个舱段中各舱段的重力均布载荷q_i、各舱段的弯曲刚度(EI)_i以及设置于所述导弹上的多个支点的位置坐标z_j，并将所述导弹划分为若干个微段，每个微段的长度为d，其中，每个舱段的起始坐标x_i、每个支点的位置坐标z_j能被d整除，i＝1，2，3，...，n，j＝1，2，3，...，m，n为舱段数目，m为支点数目；

根据每个微段的挠度方程以及支点位置处挠度为零所列出的第一方程组，以及根据所述导弹上受到的合力为零以及合力矩为零所列出的第二方程组，计算获得所述导弹上支点处的m个支反力的大小；

根据所述m个支反力的大小判断输入的所述多个支点的位置是否符合预设条件；

所述根据每个微段的挠度方程以及支点位置处挠度为零所列出的第一方程组，以及根据所述导弹上受到的合力为零以及合力矩为零所列出的第二方程组，计算获得所述导弹上支点处的m个支反力的大小，包括：

根据每个微段的合力、弯矩获得每个微段的挠度方程w(x)，以及根据支点处的挠度为零，获得第一方程组：

F_l(k)＝(q_k)_i*d，

F_l(z_k)＝(q_k)_i*d+Fw_j，

w(z_j)＝0，

其中，F_l(k)为第k个微段的合力，(q_k)_i为第k个微段所在舱段对应的重力均布载荷，z_k为每个支点位置对应的微段序号，Fw_j为支点处的支反力，M_k为第k个微段上的弯矩，x_l(p)为第p个微段的起始坐标，(EI_k)_i为第k个微段所在舱段对应的弯曲刚度，C和D为积分常数，k＝1，2，3，...，s，s为微段数目；以及

根据所述导弹上受到的合力为零以及合力矩为零，获得第二方程组：

求解所述第一方程组和第二方程组，获得m个支反力Fw_j。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述m个支反力的大小判断输入的所述多个支点的位置是否符合预设条件，包括：

根据所述m个支反力的大小获得每个舱段的剪力以及弯矩大小，并判断每个舱段上的最大应力是否小于所述舱段对应的许用应力；

若是，则输入的所述多个支点的位置符合条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述m个支反力的大小判断输入的所述多个支点的位置是否符合预设条件，包括：

根据所述m个支反力的大小获得每个舱段上的转角以及挠度，并判断所述每个舱段上的转角以及挠度是否小于每个舱段对应的允许最大转角以及允许最大挠度；

若是，则输入的所述多个支点的位置符合条件。