[发明专利]一种多功能高效动态芯片验证仿真方法和设备

说明书

本发明公开了一种高效动态芯片验证仿真的方法和设备，其维护统一可配置的验证用例管理列表，通过与服务器集群的实时交互，动态调整验证用例仿真执行数量，最大限度的动态并行完成对大规模验证用例的仿真运行。回归完成后，对回归结果错误用例进行调试模式的二次回归。本方法充分利用服务器集群硬件资源，动态实时调整并行执行的验证用例数量，提高验证用例回归自动化水平，减少验证人员的工作量，缩短芯片验证工作研发周期,对于多项目共用服务器集群的应用情况，效率提升更为显著。

技术领域

本发明一般地涉及芯片验证仿真技术领域。更具体地，本发明涉及一种多功能高效动态芯片验证仿真方法和设备。

背景技术

随着芯片自身复杂度的日益提高,以及一直存在的项目进度压力，如何保质高效的完成芯片验证工作是验证人员需要解决的技术问题。当芯片设计代码稳定后，验证工程师设计大规模验证用例来保证整个芯片的功能正确。随着芯片规模不断加大，验证用例数量也大幅提升。随着验证工作的开展，会不断发现设计缺陷，这就需要设计人员修改当前的芯片设计，但是修改设计有可能出现修改不正确或者引起其他功能异常的情况，所以每次的代码修改都需要将所有的用例进行回归验证。如果人为的开展这项工作，会受到工作时间、人力效率等因素的影响，无法做到最高效的完成。

发明内容

本发明的目的是提供一种多功能高效动态的芯片验证仿真方法和设备，通过与服务器集群的实时交互，动态调整验证用例仿真执行数量，最大限度地动态并行完成对大规模验证用例的仿真运行。该方法可在无人力干预情况下，最大限度的利用硬件资源完成回归工作，可大幅度缩短回归工作的时间，提高芯片验证工作的效率。为此，本发明在下面的多个方面和实施例中提供技术方案。

在一个方面中，本发明提供一种多功能高效动态芯片验证仿真方法，其包括以下步骤：

使用验证用例管理列表来管理芯片的所有验证用例，验证用例管理列表中每一行描述一个验证用例，该验证用例包括配置参数，该配置参数至少包含用例标识和回归开关；

启动动态批量回归控制器，并且：

1)在单用例仿真调试模式下，输入验证用例管理列表中的用例标识，所述动态批量回归控制器配置成通过用例标识在验证用例列表中索引该验证用例的配置参数，配置验证用例环境并进行单个验证用例仿真调试；

2)在大批量仿真回归模式下，输入整个验证管理列表，动态批量回归控制器定时计算服务器集群的负载和使用情况，并根据计算结果对验证用例管理列表中开启回归开关的验证用例动态分批并行执行回归；以及待所回归的验证用例执行完毕，启动结果分析处理器分析输出日志，对回归出错的验证用例，开启调试模式，进行二次批量回归仿真，将生成的调试波形文件和日志文件保存至服务器，供验证人员排查调试。

在一个实施例中，大批量仿真回归模式下的动态批量处理回归控制器的执行过程包括：

S1：动态批处理回归模块读入验证用例列表，将列表中所有开启回归开关的验证用例作为此次回归的用例集；

S2：动态批处理回归控制器对服务器集群的参数进行分析计算，得出当前可并行回归的用例数量n，当n0时，则可以在服务器中再运行n个用例；否则说明目前服务器集群资源紧张，无法再运行其它用例；

S3：当服务器可再运行n个用例，动态批处理回归模块计算待回归用例剩余数量m时：当n≥m时，则将待回归的m个用例全部并行到服务器中进行仿真回归，动态批处理回归模块工作结束；当nm时，则将待回归的n个用例并行到服务器中进行仿真回归，剩余的待回归用例等待下次处理；以及

S4：经过设定的等待时间，重复步骤S2，直至验证用例列表中待回归的用例全部完成回归。

在一个实施例中，服务器集群的参数包括性能、工作状态、占用率、个人可配置使用最大资源中的一个或多个。