[发明专利]一种多功能高效动态芯片验证仿真方法和设备有效
| 申请号: | 201811471943.7 | 申请日: | 2018-12-04 |
| 公开(公告)号: | CN109597733B | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
| 发明(设计)人: | 成丹;马盼;张少真;齐丹;李宾;张晋升;刘学毅;孟勇;王文斌;马效波;贾琳姗 | 申请(专利权)人: | 航天恒星科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
| 代理公司: | 北京善任知识产权代理有限公司 11650 | 代理人: | 孙新国;金杨 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 多功能 高效 动态 芯片 验证 仿真 方法 设备 | ||
1.一种多功能高效动态芯片验证仿真方法,包括以下步骤:
使用验证用例管理列表来管理芯片的所有验证用例,验证用例管理列表中每一行描述一个验证用例,该验证用例包括配置参数,该配置参数至少包含用例标识和回归开关;
启动动态批量回归控制器,并且:
1)在单用例仿真调试模式下,输入验证用例管理列表中的用例标识,所述动态批量回归控制器配置成通过用例标识在验证用例列表中索引该验证用例的配置参数,配置验证用例环境并进行单个验证用例仿真调试;
2)在大批量仿真回归模式下,输入整个验证管理列表,动态批量回归控制器定时计算服务器集群的负载和使用情况,并根据计算结果对验证用例管理列表中开启回归开关的验证用例动态分批并行执行回归;以及待所回归的验证用例执行完毕,启动结果分析处理器分析输出日志,对回归出错的验证用例,开启调试模式,进行二次批量回归仿真,将生成的调试波形文件和日志文件保存至服务器,以供验证人员排查调试;
其中,所述大批量仿真回归模式下的所述动态批量处理回归控制器的执行过程包括:
S1:动态批处理回归模块读入验证用例列表,将列表中所有开启回归开关的验证用例作为此次回归的用例集;
S2:动态批处理回归控制器对服务器集群的参数进行分析计算,得出当前可并行回归的用例数量n,当n0时,则可以在服务器中再运行n个用例;否则说明目前服务器集群资源紧张,无法再运行其它用例;
S3:当服务器可再运行n个用例,动态批处理回归模块计算待回归用例剩余数量m时:当n≥m时,则将待回归的m个用例全部并行到服务器中进行仿真回归,动态批处理回归模块工作结束;当nm时,则将待回归的n个用例并行到服务器中进行仿真回归,剩余的待回归用例等待下次处理;以及
S4:经过设定的等待时间,重复步骤S2,直至验证用例列表中待回归的用例全部完成回归。
2.根据权利要求1所述的多功能高效动态芯片验证仿真方法,其特征在于,所述服务器集群的参数包括性能、工作状态、占用率、个人可配置使用最大资源中的一个或多个。
3.根据权利要求1所述的多功能高效动态芯片验证仿真方法,其特征在于,至少根据回归用例的平均执行时间或服务器其他用户的使用情况中的至少一个来设置所述等待时间。
4.根据权利要求1所述的多功能高效动态芯片验证仿真方法,其特征在于,所述配置参数还包括调试模式开关和覆盖率统计开关。
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