[发明专利]LCD绑定引脚结构、玻璃基板以及模组结构有效
申请号: | 201811463294.6 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN109597251B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 范金智 | 申请(专利权)人: | 华显光电技术(惠州)有限公司 |
主分类号: | G02F1/1345 | 分类号: | G02F1/1345 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | lcd 绑定 引脚 结构 玻璃 以及 模组 | ||
本发明涉及一种LCD绑定引脚结构,包括若干绑定管脚以及若干开关元件。每一所述开关元件的漏极端对应与一所述绑定管脚连接,各个所述开关元件的源极端相互连接,每一所述绑定管脚均对应用于接收电信号,各个所述开关元件用于在所述电信号的控制下导通各个所述绑定管脚。上述LCD绑定引脚结构,优化了LCD设计,当绑定芯片在LCD玻璃基板上时,可以进行绑定效果自检,即判断绑定在具有该LCD绑定引脚结构的LCD玻璃基板上的芯片IC两两信号线之间的阻抗大小而得出绑定效果,提高了LCD绑定的检出能力和效率,为检验绑定效果提供可行性方案,提升产品性能,降低项目失败成本,方便不良产品的分析和改善。
技术领域
本发明涉及液晶面板显示技术领域,特别是涉及一种LCD绑定引脚结构、LCD玻璃基板以及LCD模组结构。
背景技术
目前,液晶面板(LCD)模组生产中有一个工序是COG绑定,即IC通过ACF绑定在LCD玻璃上,实现功能导通。此工序可能存在假压或不良,即IC和LCD对应的pad不导通或阻抗有异常。目前对该工序的检验方式有常规COG(IC chip on glass)方式以及全检方式,常规COG方式下用于抽检确认绑定效果,全检方式下用于对生产出来的成品进行功能检验。
但是,常规COG方式下显微镜只能抽检确认绑定效果,由于不是全检,存在有漏检的可能,而全检需要生产出成品再进行功能检验,且In-cell需要分别检测显示画面好触控功能是否正常,此时也检测检验合格的产品,因为该检验合格的产品也有可能存在假压不良,如压贴效果不好、如压贴粒子过少阻抗较大等情况导致假压不良,虽暂时不影响检验时候的功能,然而其有可能在老化后进行较长时间通电后才会失效,严重影响LCD液晶面板的质量和使用寿命。
发明内容
基于此,有必要针对如何提高LCD绑定的检出能力和效率的技术问题,提供一种LCD绑定引脚结构、LCD玻璃基板以及LCD模组结构。
一种LCD绑定引脚结构,包括若干绑定管脚以及若干开关元件;
各个所述开关元件的栅极端相互连接;
各个所述开关元件的源极端相互连接;
每一所述开关元件的漏极端对应与一所述绑定管脚连接,各个所述开关元件的源极端相互连接,每一所述绑定管脚均对应用于接收电信号,各个所述开关元件用于受控导通各个所述绑定管脚。
上述LCD绑定引脚结构,优化了LCD设计,当绑定芯片在LCD玻璃基板上时,可以进行绑定效果自检,即判断绑定在具有该LCD绑定引脚结构的LCD玻璃基板上的芯片IC两两信号线之间的阻抗大小而得出绑定效果,提高了LCD绑定的检出能力和效率,为检验绑定效果提供可行性方案,提升产品性能,降低项目失败成本,方便不良产品的分析和改善。
在其中一个实施例中,所述开关元件为薄膜场效应晶体管器件。
在其中一个实施例中,所述开关元件包括栅极端、漏极端及源极端,所述栅极端对应于薄膜场效应晶体管的栅极,所述漏极端对应于薄膜场效应晶体管的漏极,所述源极端对应于薄膜场效应晶体管的源极;所述漏极端与所述绑定管脚的顶端连接,各个所述开关元件的所述源极端相互连接。
在其中一个实施例中,所述漏极端与所述绑定管脚的顶端连接,每一所述开关元件的源极端连接到栅极端。
在其中一个实施例中,若干所述绑定管脚成矩阵分布设置。
在其中一个实施例中,所述LCD绑定引脚结构还包括十字定位架,所述十字定位架设置于若干所述绑定管脚一侧。
在其中一个实施例中,所述十字定位架的数量为两个。
在其中一个实施例中,两个所述十字定位架分别设置于若干所述绑定管脚两侧。
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