[发明专利]LCD绑定引脚结构、玻璃基板以及模组结构

权利要求书

1.一种用于LCD模组结构的LCD绑定引脚结构的检测方法，所述LCD模组结构包括LCD绑定引脚结构，所述LCD绑定引脚结构包括若干绑定管脚，其特征在于，所述LCD模组结构包括IC芯片以及LCD玻璃基板，所述IC芯片绑定设置于所述LCD玻璃基板上；

所述LCD玻璃基板包括玻璃板以及所述LCD绑定引脚结构，所述LCD绑定引脚结构设置于所述玻璃板上；

所述LCD绑定引脚结构还包括若干开关元件；

各个所述开关元件的栅极端相互连接；

每一所述开关元件的漏极端对应与一所述绑定管脚连接，各个所述开关元件的源极端相互连接，每一所述绑定管脚均对应用于接收电信号，各个所述开关元件用于受控导通各个所述绑定管脚；所述LCD绑定引脚结构的检测方法包括：

当绑定IC芯片在LCD玻璃基板上时，所述IC芯片的信号线一一对应地绑定在LCD玻璃基板的所述绑定管脚上；

当所述开关元件的栅极端不上电时，借助于所述IC芯片判断绑定在具有该LCD绑定引脚结构的LCD玻璃基板上的IC芯片两两信号线之间的阻抗大小，以判断绑定是否存在短路；

当所述开关元件的栅极端上电时，借助于所述IC芯片判断绑定在具有该LCD绑定引脚结构的LCD玻璃基板上的IC芯片两两信号线之间的阻抗大小，以判断绑定是否存在开路。

2.根据权利要求1所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述开关元件为晶体管器件。

3.根据权利要求2所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述开关元件为薄膜场效应晶体管器件。

4.根据权利要求3所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述开关元件包括栅极端、漏极端及源极端，所述栅极端对应于薄膜场效应晶体管的栅极，所述漏极端对应于薄膜场效应晶体管的漏极，所述源极端对应于薄膜场效应晶体管的源极；所述漏极端与所述绑定管脚的顶端连接，各个所述开关元件的所述源极端相互连接。

5.根据权利要求1所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述漏极端与所述绑定管脚的顶端连接，每一所述开关元件的源极端连接到栅极端。

6.根据权利要求1所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述LCD绑定引脚结构还包括十字定位架，所述十字定位架设置于若干所述绑定管脚一侧。

7.根据权利要求6所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述十字定位架的数量为两个。

8.根据权利要求1所述的LCD绑定引脚结构的检测方法，其特征在于，所述LCD绑定引脚结构还包括两个十字定位架，两个所述十字定位架分别设置于若干所述绑定管脚两侧。