[发明专利]一种紫光LED外延结构的制备方法及其结构在审
申请号: | 201811452087.0 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN109585621A | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 武杰;易翰翔;郝锐;李玉珠;吴光芬 | 申请(专利权)人: | 广东德力光电有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00;H01L33/14 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 颜希文;郝传鑫 |
地址: | 529000 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外延结构 紫光LED 生长 制备 蓝宝石 温度调节 超晶格 上表面 衬底 量子阱结构 材料生长 发光效率 应力影响 量子阱 周期数 阻挡层 | ||
本发明涉及一种紫光LED外延结构的制备方法及其结构,包括如下步骤:(1)蓝宝石衬底置于MOCVD中生长;(2)将温度调节至550°,所述蓝宝石衬底的上表面生长出AlN buffer层;(3)将温度调节至1050~1100°,所述AlN buffer层的上表面由下至上依次生长出高温GaN缓冲层、N‑型AlGaN阻挡层和N‑GaN层;(4)生长超晶格InGaN层,其中,所述超晶格InGaN层的周期数为3~10层;(5)生长Alx1Iny1Ga1‑x1‑y1N/Alx2Iny2Ga1‑x2‑y2N层量子阱结构。本发明提供的一种紫光LED外延结构的制备方法及其结构,其中,量子阱、垒均为AlInGaN材料生长,减少由材料不同带来的应力影响,从而提高了发光效率。
技术领域
本发明涉及LED外延设计技术领域,具体涉及一种紫光LED外延结构的制备方法及其结构。
背景技术
LED(Light Emitting Diode,发光二极管)具有体积小、坚固耐用、发光波段可控性强、光效高、低热损耗、光衰小、节能、环保等优点,受到了广泛应用。近年来,LED在显示屏、仪表背光源、交通信号显示、汽车尾灯及车内仪表显示和装饰、以及照明等领域得到广泛应用。但LED照明的普及,其发光效率有待进一步提高。目前传统紫光LED外延结构,由于阱垒材料不同会产生很大应力,形成的内建电场影响发光效率。
发明内容
针对上述技术问题,本发明提供了一种紫光LED外延结构的制备方法及其结构,其中,量子阱、垒均为AlInGaN材料生长,减少由材料不同带来的应力影响,从而提高了发光效率。
为实现上述目的,本发明提供了一种紫光LED外延结构的制备方法,包括如下步骤:(1)蓝宝石衬底置于MOCVD中生长;(2)将温度调节至550°,所述蓝宝石衬底的上表面生长出AlN buffer层;(3)将温度调节至1050~1100°,所述AlN buffer层的上表面由下至上依次生长出高温GaN缓冲层、N-型AlGaN阻挡层和N-GaN层;(4)生长超晶格InGaN层,其中,所述超晶格InGaN层的周期数为3~10层;(5)生长Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N层量子阱结构。
作为优选方案,所述Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N层的周期数为5~20层。
作为优选方案,所述量子阱结构尺寸如下:厚度为20~40nm,阱宽为3~5nm,垒17~35nm。
作为优选方案,所述量子阱结构中Al组分中的X1在0~0.1之间渐变,所述垒中si为delta掺杂。
作为优选方案,在步骤(5)后还包括步骤(6)生长GaN/Alx3Ga1-x3N周期数为3~10的LB层。
作为优选方案,所述LB层中X3的取值范围为0.1~0.2。
作为优选方案,在步骤(6)后还包括步骤(7)生长P型AlGaN/InGaN周期数为6~15的超晶格电子阻挡层。
作为优选方案,在步骤(7)后还包括步骤(8)生长高浓度掺杂的P-GaN层。
为实现上述相同目的,本发明还提供了一种紫光LED外延结构,由下至上依次包括:蓝宝石衬底、AlN buffer层、高温GaN缓冲层、N-型AlGaN阻挡层,N-GaN层和超晶格InGaN层。
作为优选方案,所述超晶格InGaN层的上表面由下至上依次包括Alx1Iny1Ga1-x1-y1N/Alx2Iny2Ga1-x2-y2N层量子阱结构、LB层、超晶格电子阻挡层和高浓度掺杂的P-GaN层,其中,所述量子阱结构尺寸如下:厚度为20~40nm,阱宽为3~5nm,垒17~35nm,所述量子阱结构中Al组分中的X1在0~0.1之间渐变,所述垒中si为delta掺杂。
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