[发明专利]一种基于特征挖掘和加权贝叶斯分类器的缺陷提取方法有效

专利信息
申请号: 201811451824.5 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN109636781B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 殷春;张昊楠;程玉华;黄雪刚;薛婷;石安华;陈凯 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06K9/62
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 特征 挖掘 加权 贝叶斯 分类 缺陷 提取 方法
【说明书】:

本发明公开了一种基于特征挖掘和加权贝叶斯分类器的缺陷提取方法,通过选取热图像序列中的步长将图像分块,并根据分块去除冗余信息,提取代表性瞬态热响应。之后,再利用特征提取公式对瞬态热响应进行特征提取,并根据所提取出的特征以及不同特征的权值,运用加权贝叶斯分类器将瞬态热响应分类,然后,对三维矩阵进行变换,得到含有缺陷区域的二维图像,最后采用Canny算子对像素值(温度值)差距最大的含有缺陷区域的二维图像进行边缘轮廓提取,得到最终的缺陷图像,从而提取出热图像的缺陷特征。本发明通过深层次挖掘瞬态热响应曲线所包含的物理信息,提高了聚类的合理性,从而提高了缺陷提取的精准度。

技术领域

本发明属于缺陷检测技术领域,更为具体地讲,涉及一种基于特征挖掘和加权贝叶斯分类器的缺陷提取方法。

背景技术

红外热图像检测技术通过控制热激励方法和测量材料表面的温场变化获取材料表面及其表面以下的结构信息,从而达到检测的目的。在获取结构信息时,常常用到红外热像仪记录试件表面或者亚表面随时间变化的温场信息,并将其转换为热图像序列呈现出来。由于用红外热像仪得到的热图像序列的数据量巨大,噪声干扰强,为了获得更好的检测效果,需要对热图像序列进行特征提取。

在处理热图像序列时,有基于单帧图像处理的方法,也有基于图像序列处理的方法。基于单帧图像处理的方法只考虑了试件在某一个时刻的温度分布信息,并不能体现试件在不同时刻的温度情况,得到的处理结果是不完整的,片面的。因此基于图像序列处理的方法得到了广泛的关注与研究。

红外热成像检测最常采用的是涡流热成像。根据电磁感应定律,当通入高频的交变电流的感应线圈靠近导体试件(简称试件)时,在试件的表面会感生出涡流。如果试件中有缺陷,涡流将被迫绕过缺陷,改变其流向,这将使得被测件内部涡流密度发生变化。由焦耳定律可知,涡流在试件中转换成焦耳热,导致试件中产生的热量不均匀,从而产生高温区和低温区,由于温度的差异性,高温区热量通过热传导向低温区传递,导致试件不同区域温度发生变化,通过红外热像仪采集试件温度的变化过程,然后将采集的热图像序列交给计算机进行分析处理,来获取试件相关信息,实现缺陷的定性与定量检测。

在2018年10月30日公布的、公布号为CN108712069A、名称为“一种基于行变步长分割的高压容器热成像缺陷检测方法”的中国发明专利申请中,利用了步长搜索方法进行缺陷特征的提取,在此之后采用模糊C均值算法将瞬态热响应曲线分类。在该发明专利申请中,模糊C均值算法通过聚类中心和隶属度函数将瞬态热响应曲线分类,由其目标函数可知,其分类原理是将样本与聚类中心之间的距离最小化,然而这种方法对于每条瞬态热响应曲线所蕴含的物理意义没有更进一步的挖掘。由于没有深层次挖掘瞬态热响应曲线所包含的物理信息,因此使得聚类的合理性降低,从而影响了缺陷提取的精度。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于特征挖掘和加权贝叶斯分类器的缺陷提取方法,通过深层次挖掘瞬态热响应曲线所包含的物理信息,以提高聚类的合理性,从而提高缺陷提取的精准度。

为实现上述发明目的,本发明基于特征挖掘和加权贝叶斯分类器的缺陷提取方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)、将红外热像仪获取的热图像序列用三维矩阵S表示,其中的元素S(i,j,t)表示热图像序列的t帧热图像的第i行、第j列的像素值;

(2)、从三维矩阵S选出最大像素值S(izz,jzz,tzz),其中,izz、jzz和tzz分别表示最大像素值像素点所在行的行数、所在列的列数以及所在帧的帧数;

(3)、对于三维矩阵S的tzz帧,选取第jzz行,根据像素值(即温度值)的变化,选取P个像素值跳变点,跳变点位于两个跳变像素值像素点之间,以跳变点按行对三维矩阵S进行划分,得到P+1个行数据块;

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