[发明专利]用于对脉冲式的测量参量求平均的方法

权利要求书

1.一种用于对脉冲式的测量参量求平均值的方法，所述方法包括以下步骤：

检测所述测量参量的时间离散的测量值（1，1'，1''）；

以第一滤波时间常数进行所述测量值（1，1'，1''）的第一滤波，在所述第一滤波情况下获得第一信号（2）；

以第二滤波时间常数进行所述测量值（1，1'，1''）的第二滤波，在所述第二滤波情况下获得第二信号（3），其中，所述第二滤波时间常数大于所述第一滤波时间常数；

确定交叉点（4；6；9），在所述交叉点上，所述第一信号（2）和所述第二信号（3）交叉；

对所述交叉点（4；6；9）之间的所述测量值（1，1'，1''）以算术的方式求平均值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，仅将所述第一信号（2）下降时所得的与所述第二信号（3）的交叉点确定为所述交叉点（4）。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，仅将所述第一信号（2）上升时所得的与所述第二信号（3）的交叉点确定为所述交叉点（6）。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在由所述第一信号（2）下降时所得交叉点（4）所确定的所述平均值（5）与由所述第一信号（2）上升时所得交叉点所确定的所述平均值（7）之间求平均值。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在检测所述时间离散的测量值（1）时检测在所述测量参量的脉冲期间的至少十个测量值（1）。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在确定所述交叉点（9）时执行所述第一信号（2）的和所述第二信号（3）的线性内插。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一滤波的极限频率为所述测量参量的脉冲的频率的大致双倍。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述第二滤波时间常数为所述第一滤波时间常数的大致四倍。

9.一种机器可读的存储介质，在所述存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被设立用于执行根据权利要求1至8中任一项所述的方法的每一个步骤。

10.一种电子控制设备，所述电子控制设备被设立用于借助根据权利要求1至8中任一项所述的方法对脉冲式的测量参量求平均值。