[发明专利]一种提高同步送粉增材制造成形精度的方法有效

专利信息
申请号: 201811432840.X 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109530690B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 杨光;邵帅;钦兰云;王伟;赵朔;王超;任宇航;尚纯;王维 申请(专利权)人: 沈阳航空航天大学
主分类号: B22F3/105 分类号: B22F3/105;B33Y10/00
代理公司: 沈阳东大知识产权代理有限公司 21109 代理人: 刘晓岚
地址: 110136 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 同步 送粉增材 制造 成形 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种提高同步送粉增材制造成形精度的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一、对待加工的零件进行三维建模;

步骤二、对三维模型设定层数、设定层厚m、设置生长方向、规划扫描路径和设置打印参数;

步骤三、进行同步送粉增材制造,在同步送粉增材制造过程中采集熔池到激光测距仪的距离的数据b,通过计算得到熔池到激光测距仪垂直距离c,其中,a为激光测距仪到同步送粉增材制造设备的激光送粉头的距离;

步骤四、对熔池到激光测距仪垂直距离c进行降噪处理,具体包括:

将“│c-理论值│2*阈值k”的所有点去除;

步骤五、对降噪处理后的数据进行稀疏化处理,具体包括:

步骤1、将降噪处理后得到的数据投影到第N层平面上,得到点云带Pi

步骤2、以第N层扫描线LN为基值,从第一点开始,求点云带Pi到LN的距离,如果大于给定值,将此点去除,继续求下一个点,直到所有点全部完成,得到小于等于给定值的点P'1、P'2、P'3、P'4……,即点云带P'i

步骤3、以光斑尺寸为间距,从点云带P'i起点开始将此间距的点求平均值,将点云带P'i范围内所有点稀疏成一个新的点云带Qi

步骤六、计算降噪与稀疏化处理后的数据到基材的实测高度与第N层理论高度的差值,判断是否进行同步送粉增材制造,具体包括:

步骤(1)从第一点开始,求点云带Qi到基材的实测高度与第N层理论高度的差值Δhi=Di-ZN

步骤(2)如果|Δhi|≤m,继续进行同步送粉增材制造;

步骤(3)如果|Δhi|>m,重新规划填充轨迹,然后从步骤三开始继续进行同步送粉增材制造;

所述步骤(3)中重新规划填充轨迹为:

当Δhi<0并且|Δhi|>m时,将所有Δhi<0并且|Δhi|>m的点集合,生成补层N′,对于N′数据进行路径规划,使补层区域扫描间距小于正常间距,成形高度大于其他区域,用于补层;

当Δhi>0并且|Δhi|>m时,将所有Δhi>0并且|Δhi|>m的点集合,生成去层N″,对N″数据进行路径规划,使去层区域扫描间距大于正常间距,成形高度低于其他部位,用于去层,生成新的扫描轨迹替换N+1层;

当Δhi<0并且|Δhi|>m和Δhi>0并且|Δhi|>m同时存在时,将补层和去层合并,生成新的扫描轨迹替换N+1层;

其中,Di为Qi到基材的实测高度,ZN为第N层理论高度;

步骤七、比较第N层实测高度和第N+1层实测高度的差值与层厚的关系,判断零件是否存在开裂,具体包括:

零件边缘部分Z′N+m>ZN+1,且Z′N+1-ZN≥2m时,判定零件存在开裂,如果零件存在开裂,则从步骤二开始重新进行同步送粉增材制造;如果零件不存在开裂,则继续进行同步送粉增材制造;

其中,Z′N为第N层实测高度,Z′N+1为第N+1层实测高度,ZN+1为第N+1层理论高度;

步骤八、比较第N+1层是否大于设定层数,判断同步送粉增材制造是否完成,如果第N+1层大于设定层数,同步送粉增材制造完成;如果第N+1层小于等于设定层数,从步骤三开始继续进行同步送粉增材制造,直至整个零件制造完成。

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