[发明专利]辅助质检方法、装置、计算机设备及可读存储介质

说明书

本发明适用于计算机领域，提供了一种辅助质检方法、装置、计算机装置及可读存储介质，其中所述方法包括：获取待检产品的图像；将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。本发明实施例提供的辅助质检方法，通过采集待检产品的图像，利用计算机识别待检产品瑕疵并确定位置信息，根据所述产品瑕疵的位置将不良标识投射在产品表面，使得质检员可以直接定位产品瑕疵的位置，并快速确认，降低了计算机漏判、误判的可能性，有效地提高了产品质检的效率以及效果。

技术领域

本发明涉及计算机领域，特别是涉及一种辅助质检方法、装置、计算机设备及可读存储介质。

背景技术

随着计算机的普及，计算机技术也应用到形形色色的领域之中，尤其是应用于工业生产当中，能够有效地替代人力进行简单、重复的工作。

例如，在工业生产的质检环节中中，为保证产品质量，需要投入大量的人力、物力对产品的质量进行管控，而如果利用计算机技术进行对比，有效地降低了人力成本，但是，由于技术的限制，导致质检的效果没有使用人力进行质检的效果好，计算机经常会出现误判、漏判的错误。

可见，现有技术中，仅仅使用人力对产品的质量进行管控，成本太高，检测人员的负荷太重，而使用计算机技术对产品的质量进行管控，则质检的效果会大打折扣。

发明内容

本发明实施例提供一种辅助质检方法，以解决现有技术在质检过程中存在的质检效果不理想的技术缺陷。

本发明实施例提供一种辅助质检方法，所述方法包括以下步骤：

获取待检产品的图像；

将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；

根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

本发明实施例还提供一种辅助质检装置，所述装置包括：

待检产品图像获取单元，用于获取待检产品的图像；

对比单元，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；以及

不良信息标识投影控制单元，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

本发明实施例还提供一种计算机装置，所述计算机装置包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如上述所述辅助质检方法的步骤。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行上述所述辅助质检方法的步骤。

本发明实施例提供的辅助质检方法，通过获取待检产品的图像，并将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，自动识别出待检产品的瑕疵，并在所述待检产品的图像中确定该瑕疵的位置信息，根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面，以使所述不良信息标识刚好投射在待检产品的瑕疵处，从而使得质检员可以根据展示的不良信息标识确定所述待检产品的瑕疵。本发明实施例中公开的辅助质检方法，相比于现有技术，无需消耗大量的人力，同时在质检过程中，经过智能和人工的双重确定，有效地提高了最终的质检效果。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种辅助质检方法的步骤流程图；

图2为本发明实施例中将不良信息标识投射在待检产品表面的步骤流程图；