[发明专利]辅助质检方法、装置、计算机设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种辅助质检方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取待检产品的图像；

将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；

根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面的步骤，具体包括：

获取所述待检产品瑕疵的位置信息；

获取所述投影设备相对于产品的位置关系；

根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述辅助质检方法的步骤，还包括：

控制投影设备将所述预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息的步骤，具体包括：

将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息；

根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息确定所述待检产品瑕疵的类型；

所述根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面的步骤，具体包括：

根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述待检产品瑕疵的类型，控制投影设备将与待检产品瑕疵的类型对应的不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

5.一种辅助质检装置，其特征在于，所述辅助质检装置包括：

待检产品图像获取单元，用于获取待检产品的图像；

对比单元，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息；以及

不良信息标识投影控制单元，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述不良信息标识投影控制单元具体包括：

瑕疵位置信息获取模块，用于获取所述待检产品瑕疵的位置信息；

投影设备位置信息获取模块，用于获取所述投影设备相对于产品的位置关系；以及

不良信息标识投影控制模块，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述投影设备相对于产品的位置关系，控制投影设备将不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述辅助质检装置还包括：

标准产品图像投影控制单元，用于控制投影设备将所述预存的标准产品的图像投射在所述待检产品周边区域。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述对比单元具体包括：

对比模块，用于将所述待检产品的图像与预存的标准产品的图像进行对比，在所述待检产品的图像中确定待检产品瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息；以及

瑕疵类型确定模块，用于根据所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形状信息确定所述待检产品瑕疵的类型；

所述不良信息标识投影控制单元具体包括：

不良信息标识投影控制模块，用于根据所述待检产品瑕疵的位置信息以及所述待检产品瑕疵的类型，控制投影设备将与待检产品瑕疵的类型对应的不良信息标识投射在所述待检产品的表面。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，其特征在于所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至4中任一项权利要求所述辅助质检方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至4中任一项权利要求所述辅助质检方法的步骤。