[发明专利]薄膜光伏组件测试方法及薄膜光伏组件在审
申请号: | 201811423701.0 | 申请日: | 2018-11-26 |
公开(公告)号: | CN109755147A | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 刘晓清;王怀松 | 申请(专利权)人: | 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王术兰 |
地址: | 100176 北京市经济技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜光伏组件 校准 测试 组件测试仪 光伏组件 测试仪 检测 薄膜电池 标准参考 参考 预设 | ||
1.一种薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
根据预设方法获取薄膜光伏组件的校准参考值;
通过所述校准参考值对光伏组件测试仪进行校准;
通过校准后的所述光伏组件测试仪测试待检测薄膜光伏组件的功率,并将测试得到的功率记为所述待检测薄膜光伏组件的功率。
2.根据权利要求1所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,所述根据预设方法获取薄膜光伏组件的校准参考值的步骤包括:
获取满足预设参数的薄膜光伏组件;
对所述薄膜光伏组件进行稳定化处理,得到稳定薄膜光伏组件;
通过参考电池对所述稳定薄膜光伏组件进行标定测试,得到所述稳定薄膜光伏组件的标称值,将所述标称值作为所述校准参考值。
3.根据权利要求2所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,对所述薄膜光伏组件进行稳定化处理的步骤,包括:
对所述薄膜光伏组件进行光老练处理以得到满足第一稳定条件的薄膜光伏组件;
对满足所述第一稳定条件的薄膜光伏组件进行电性能测试,以获取所述稳定薄膜光伏组件。
4.根据权利要求3所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,对所述薄膜光伏组件进行光老练处理以得到满足第一稳定条件的薄膜光伏组件的步骤包括:
对所述薄膜光伏组件进行光照处理并记录所述薄膜光伏组件进行光照处理后的功率;
计算经过相邻两次光照处理的所述薄膜光伏组件的功率变化率;
判断所述功率变化率是否小于设定值,当所述功率变化率小于所述设定值时,判定光照处理后的薄膜光伏组件满足所述第一稳定条件。
5.根据权利要求4所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,所述对满足所述第一稳定条件的薄膜光伏组件进行电性能测试的步骤之前,还包括:
对满足所述第一稳定条件的薄膜光伏组件进行冷却处理以及辐照处理,以使所述薄膜光伏组件达到标准测试条件。
6.根据权利要求5所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,所述对满足所述第一稳定条件的薄膜光伏组件进行电性能测试的步骤包括:
在所述标准测试条件下,采用组件测试仪分别对所述薄膜光伏组件进行多次连续的正向扫描测量以及多次连续的反向扫描测量,并分别记录正向I-V特性曲线和反向I-V特性曲线;
分别根据所述正向I-V特性曲线和所述反向I-V特性曲线计算正向最大工作功率和反向最大工作功率;
判断所述正向最大工作功率和所述反向最大工作功率的差异是否在第一预设范围内;
如果在所述第一预设范围内,则判断所述多次正向扫描测量中得到的多个电压值是否收敛以及所述多次反向扫描测量中得到的多个电压值是否收敛,如果均收敛,则判定所述薄膜光伏组件为稳定薄膜光伏组件。
7.根据权利要求6所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
如果所述正向最大工作功率和所述反向最大工作功率的差异不在所述第一预设范围内,则返回所述电性能测试的步骤,或者返回所述稳定化处理的步骤,直至所述正向最大工作功率和所述反向最大工作功率的差异在所述第一预设范围内。
8.根据权利要求6所述的薄膜光伏组件测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
如果所述多次正向扫描测量中得到的多个电压值以及所述多次反向扫描测量中得到的多个电压值不是均收敛,则返回所述电性能测试的步骤,或者返回所述稳定化处理的步骤,直至多次正向扫描测量中得到的多个电压值以及多次反向扫描测量中得到的多个电压值均收敛。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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