[发明专利]一种利用光强判定被测物表面差异的方法有效
| 申请号: | 201811402633.X | 申请日: | 2018-11-22 |
| 公开(公告)号: | CN109580631B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
| 发明(设计)人: | 叶开永;陈路南;张天皓;曾纪光;何书培;张涛;夏勇俊;曹伟魏 | 申请(专利权)人: | 成都市鹰诺实业有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 张立娟 |
| 地址: | 610021 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 利用 判定 被测物 表面 差异 方法 | ||
1.一种利用光强判定被测物表面差异的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1、利用感光传感器模组对被测物表面发光区域进行数据采集;
S2、根据不同PWM照度与感光传感器模组模拟输出之间的规律进行曲线拟合;
S3、根据标准样本和被测样本的特性曲线推导两者的关联公式Md = Mg+(Yd-Yg)/X;
S4、根据两者之间的关系对被测样本的对应点的位置的理论值进行计算,理论值=(Mg_c/Rm_c)*Rm_t * X;
S5、根据理论值与实测值之间偏差值范围确定差异;
所述步骤S5中还包括以下步骤:
S51、根据理论值与实测值计算偏差值比率,其E=(理论值–实测值)/ 理论值;
S52、根据步骤S51中的公式分别计算预设值个标准样本的数据矩阵E值并找出最大E值;
S53、根据步骤S51中的公式计算被测物数据矩阵E值矩阵;
S54、比较标准样本和待测物的E值数据矩阵确定差异
其中,c为参考基准点,t为被预测计算的点,g为标准样本,d为待测物,Mg为标准样本的PWM曲线的斜率;Md为被测样本的PWM曲线的斜率;Rm=Mg/Md,X为PWM数值。
2.根据权利要求1所述的利用光强判定被测物表面差异的方法,其特征在于,所述步骤S1中还包括以下步骤:
S11、感光传感器模组依据不同被测物特征进行动态扫描获取采样数据并对采样数据进行软件滤波处理;
S12、将获取的数据与被测物发光区域进行匹配得到有效数据矩阵。
3.根据权利要求2所述的利用光强判定被测物表面差异的方法,其特征在于,所述步骤S12中还包括以下步骤:
S121、根据被测物表面各个区域的特性不同,相应地将整个数据矩阵划分成不同的数据区域。
4.根据权利要求1-3任一项所述的利用光强判定被测物表面差异的方法,其特征在于,所述步骤S2中还包括以下步骤:
S21、采集在PWM可调区间范围内不同PWM照度下的传感器输出值;
S22、将不同PWM照度下采集的数据进行平均值和RMS值计算;
S23、分别根据平均值和RMS值进行特性曲线拟合获取拟合曲线,拟合曲线:Y=M*X+B,其中,X为PWM数值,M为PWM曲线的斜率,B为系统噪音。
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