[发明专利]一种绝缘子爬电距离自动测量方法有效
申请号: | 201811375745.0 | 申请日: | 2018-11-19 |
公开(公告)号: | CN109539994B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 濮峻嵩;刘曦;陈正雄;蔡钢;冯杰;王邦平;雷宇 | 申请(专利权)人: | 国网四川省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 胡晓丽 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝缘子 距离 自动 测量方法 | ||
本发明公开了一种绝缘子爬电距离自动测量方法,解决了现有绝缘子爬电距离测量人工方式效率低、劳动强度大、误差高问题。本发明包括:获取待测量绝缘子图像信息并从中提取绝缘子激光线轮廓像素信息;基于测量系统标定分析标定信息,将得到的绝缘子激光轮廓像素信息计算到物理坐标,测量系统标定分析标定信息的步骤包括获取各个测量单元同步拍摄棋盘格作为标定数据,然后获取棋盘格的角点信息,通过棋盘格的角点像素坐标和物理坐标对应关系,获得绝缘子图像平面中物理坐标和像素坐标之间的关系;对各个测量单元的绝缘子激光轮廓的物理坐标信息进行拼接;获取完整的绝缘子轮廓曲线,在计算范围内对绝缘子轮廓进行累加积分,进而获得绝缘子爬电距离。
技术领域
本发明涉及绝缘子爬距技术领域,具体涉及一种绝缘子爬电距离自动测量方法。
背景技术
绝缘子产品爬距是指沿绝缘子绝缘部件外表面的曲线总长度。在绝缘子生产制造、和使用过程中,爬距是决定绝缘子性能的一个重要参数。为保证该产品的性能可靠,无论产品出厂还是用户验收,均需抽样检测绝缘子产品包括爬距在内的各类尺寸参数以确认产品质量和保证运行可靠性。
目前,在生产实际中使用的爬距测量方式多采用人工方式,使用胶带沿绝缘子表面粘贴后拉直胶带测量总长的方法。该方法存在测量工作效率低,测量精度差。测量结果易受人为因素干扰等缺陷;而目前的自动化测量方法也仅为采用机电一体化装置控制点射式的激光测距仪沿绝缘子轴向进行扫描以获取爬距参数,但是,目前的自动化测量方法存在爬距起、终点无法定义,对形状复杂绝缘子存在因结构遮挡,测量困难等问题,难以在实际中应用。因此,本发明提出了一种基于光电技术,采用激光三维扫描对绝缘子产品进行快速精确爬距测量的检测方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:现有的绝缘子爬电距离测量人工方式效率低、劳动强度大、误差高,而自动化测量方法仅是通过获取的绝缘子轮廓信息进行测定,存在爬距起、终点无法定义,对形状复杂绝缘子存在因结构遮挡,测量困难问题,本发明提供了解决上述问题的一种绝缘子爬电距离自动测量方法。
本发明通过下述技术方案实现:
一种绝缘子爬电距离自动测量方法,包括如下步骤:
S1:获取待测量绝缘子图像信息;
S2:提取步骤S1中获取的所述待测量绝缘子图像信息中绝缘子激光线轮廓像素信息;
S3:基于测量系统标定分析标定信息,将步骤S2得到的所述绝缘子激光线轮廓像素信息计算到物理坐标,所述测量系统标定分析标定信息的步骤包括如下步骤:
S31:获取各个测量单元同步拍摄棋盘格作为标定数据;
S32:根据步骤S31获取的所述标定数据获取棋盘格的角点信息,通过棋盘格的角点像素坐标和物理坐标对应关系,采用四次多项式拟合获得绝缘子图像平面中物理坐标和像素坐标之间的关系;
S4:根据步骤S3将分析得到的各个测量单元的所述绝缘子激光轮廓的物理坐标信息进行拼接并去除轮廓噪声;
S5:根据步骤S4获取完整的绝缘子轮廓曲线,在计算范围内对绝缘子轮廓进行累加积分,进而获得绝缘子的爬电距离。
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