[发明专利]一种光电产品环境应力筛选方法有效
申请号: | 201811371990.4 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109492313B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 张海洲;童雨;吕瑛 | 申请(专利权)人: | 北京遥感设备研究所 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F119/14 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 葛鹏 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 产品 环境 应力 筛选 方法 | ||
本发明公开一种光电产品环境应力筛选方法,通过对光电产品进行模态分析和验证试验,以保证有限元模型的正确性;通过对光电产品进行随机振动分析和验证试验,以保证随机振动分析方法的正确性;通过对光电产品内部主要或关键部件进行模态和随机振动分析,根据分析结果对GJBl032规定的随机振动谱形和量级进行裁剪,完成光电产品的环境应力筛选方法。本方法可在较短时间内,较为准确地建立光电产品有限元模型,确认固有频率。通过随机振动分析,明确产品的薄弱环节,是一种非常有推广前景的环境应力筛选方法。
技术领域
本发明涉及一种光电产品环境应力筛选方法,特别是一种产品环境应力筛选方法。
背景技术
为了有效剔除光电设备的早期缺陷,同时又不损伤产品或过多消耗产品寿命,保证其可靠性,提出一种适合于光电产品的环境应力筛选方法。之前对于光电产品的筛选,国内可依据的标准GJB4508-2002《光电器件环境应力筛选通用要求》及GJB5018-2001《半导体光电子器件筛选与验收通用要求》等仅是针对光电器件的,对于光电产品的组件级、设备级,目前还没有可依据的国军标和行业标准。国外可依据的标准也都是参照电子产品的筛选方法,并未针对光电产品进行特殊的规定。光电产品不同于电子产品,完全按照电子产品的筛选方法进行也存在一些问题。如比较典型的光电产品:探测器、光学镜片等振动、温度敏感组件(器件),如筛选应力选择不当,或筛选时间过长会引起精度降低、性能下降,甚至产品损坏。所以在具体实施时的应力类型、应力量级和时间上需要做出适当的调整,但至今没有统一合理的标准,不同单位的调整方法各不相同,且都缺乏科学的依据。因此,迫切需要研究总结出一种适合于光电产品的环境应力筛选方法。
发明内容
本发明目的提供一种光电产品的环境应力筛选方法,解决不损伤产品或过多消耗产品寿命,保证其可靠性的前提下,能有效剔除光电产品的早期缺陷的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,包括:
搭建环境应力筛选方法的分析系统,所述分析系统的硬件组成包括相互连接的:计算机、模态分析仪、电磁振动台;
将光电产品的Pro\E结构模型导入分析系统建立有限元模型;
对光电产品的框架结构进行模态分析和验证试验,将数值模态分析结果与试验结果进行对比;
对光电产品整机进行模态分析和随机振动分析,并开展随机振动验证试验,将随机振动试验结果与分析结果进行对比;
对光电产品内部的关键部件进行模态分析与随机振动分析;
根据上述分析结果对GJBl032规定的随机振动谱形和量级进行裁剪,至此,完成了光电产品的环境应力筛选方法的制定。
本发明实现了以下显著的有益效果:
实现简单,包括搭建环境应力筛选方法的分析系统,将光电产品的Pro\E结构模型导入分析系统建立有限元模型;对光电产品的框架结构进行模态分析和验证试验,对光电产品整机进行模态分析和随机振动分析,对光电产品内部的关键部件进行模态分析与随机振动分析;根据上述分析结果对GJBl032规定的随机振动谱形和量级进行裁剪;实现了对光电产品进行了环境应力筛选方法的研究,可在较短时间内,较为准确的制定出适合于光电产品的筛选方法,以达到剔除产品早期失效的目标,是一种非常有推广前景的筛选方法。
附图说明
图1是本发明的光电产品的环境应力筛选方法的流程图。
具体实施方式
以下结合具体实施例对本发明作进一步详细说明,根据下面说明和权利要求书,本发明的优点和特征将更清楚。需要说明的是,附图均采用非常简化的形式且均适用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
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