[发明专利]一种光电产品环境应力筛选方法有效
申请号: | 201811371990.4 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109492313B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 张海洲;童雨;吕瑛 | 申请(专利权)人: | 北京遥感设备研究所 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F119/14 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 葛鹏 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 产品 环境 应力 筛选 方法 | ||
1.一种光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,包括:
搭建环境应力筛选方法的分析系统,所述分析系统的硬件组成包括相互连接的:计算机、模态分析仪、电磁振动台;
将光电产品的Pro\E结构模型导入分析系统建立有限元模型;
对光电产品的框架结构进行模态分析和验证试验,将模态分析结果与试验结果进行对比;
对光电产品整机进行模态分析和随机振动分析,并开展随机振动验证试验,将随机振动试验结果与分析结果进行对比;
对光电产品内部的关键部件进行模态分析与随机振动分析;
根据上述分析结果对GJBl032规定的随机振动谱形和量级进行裁剪,至此,完成了光电产品的环境应力筛选方法的制定。
2.根据权利要求1所述的光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,所述分析系统采用:Pro\E、HyperMesh、Ansys软件。
3.根据权利要求1所述的光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,所述有限元模型包括:模型的修改与简化,网格的划分,材料属性的定义以及约束条件的施加。
4.根据权利要求1所述的光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,所述光电产品的框架结构包括:法兰盘、支架。
5.根据权利要求1所述的光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,所述光电产品内部的关键部件包括:光学系统、探测器组件、电路板组件。
6.根据权利要求1所述的光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,所述对GJBl032规定的随机振动谱形和量级进行裁剪包括选取振动应力参数的步骤。
7.根据权利要求6所述的光电产品的环境应力筛选方法,其特征在于,所述振动应力参数,包括振动频率、谱形、量级、轴向。
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