[发明专利]逻辑电路单粒子双故障的故障模拟方法有效

专利信息
申请号: 201811370408.2 申请日: 2018-11-17
公开(公告)号: CN109507566B 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 蔡烁;王伟征;余飞;邱佳 申请(专利权)人: 长沙理工大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京致科知识产权代理有限公司 11672 代理人: 谢英;魏红雅
地址: 410114 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 逻辑电路 粒子 故障 模拟 方法
【权利要求书】:

1.一种逻辑电路单粒子双故障的故障模拟方法,其特征在于包括:

第一步骤:在目标逻辑电路中执行单粒子双故障定位以搜寻目标逻辑门对,其中将与同一条电路连接线相连的两个逻辑门确定为一对目标逻辑门对;

第二步骤:确定搜寻到的目标逻辑门对的类别,其中将具有相同的前驱逻辑门的目标逻辑门对判断为第一种类别,将其中目标逻辑门对中的两个逻辑门互为前驱逻辑门和后继逻辑门、且前驱逻辑门无其它扇出分支的目标逻辑门对判断为第二种类别;将其中目标逻辑门对中的两个逻辑门互为前驱逻辑门和后继逻辑门、且前驱逻辑门还有其它扇出分支的目标逻辑门对判断为第三种类别;

第三步骤:针对目标逻辑电路的电路逻辑,获取在对目标逻辑电路施加输入激励的情况下的正常电路响应;其中在逻辑电路的输入端随机施加一个输入向量,根据电路网表文件的描述,沿着从电路输入到电路输出的方向依次计算电路内部节点的逻辑值,直至得到电路所有节点的正确逻辑值,从而获得电路输出端的正常电路响应;

第四步骤:针对目标逻辑电路执行双故障模拟,其中在搜寻到的目标逻辑门对中的至少一个逻辑门的输出端加入非逻辑门,并获取在对加入非逻辑门之后的整个目标逻辑电路施加与第三步骤相同的输入激励的情况下的电路响应;

其中在第四步骤,在搜寻到的目标逻辑门对属于第一种类别的情况下,在搜寻到的目标逻辑门对中的每个逻辑门的输出端均加入一个非逻辑门;在搜寻到的目标逻辑门对属于第二种类别的情况下,仅仅在后继逻辑门的输出端加入一个非逻辑门;在搜寻到的目标逻辑门对属于第三种类别的情况下,在后继逻辑门的输出端加入一个非逻辑门,并且在该前驱逻辑门与任一其它扇出分支之间的指定位置加入一个非逻辑门,该指定位置处于该前驱逻辑门的输出端连接至该任一其它扇出分支的输入端的线路上、但是不处于该前驱逻辑门的输出端连接至后继逻辑门的输入端的线路上;

而且在第四步骤,在得到的电路响应与第三步骤得到的正常电路响应具有至少一位不同的情况下,判断搜寻到的目标逻辑门对所对应的单粒子双故障不能被逻辑屏蔽;在得到的电路响应与第三步骤得到的正常电路响应完全相同的情况下,判断搜寻到的目标逻辑门对所对应的单粒子双故障将被逻辑屏蔽。

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