[发明专利]一种岩样无损取样方法

说明书

本公开提供的一种岩样无损取样方法，涉及油气地质技术领域。该岩样无损取样方法用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析。该岩样无损取样方法包括：识别并记录全直径岩心上的高含油层段，识别并记录高含油层段上的目标岩性段，根据取样要求确定取样层段。该岩样无损取样方法可以快速无损地别矿物成分，并选出含油岩心，误差小，效率高，并保护岩样的完整性。

技术领域

本公开涉及油气地质技术领域，具体而言，涉及一种岩样无损取样方法。

背景技术

钻井岩心分析是获取地下岩石特征最直接的方法，特别是含油岩心，是评价岩层矿物组成、结构构造、物性、含油量、驱油机理等的重要参数，对油气前景评价和下一步勘探开发有重要的指导意义。

由于取心数量特别是含油岩心的数量有限，岩层矿物成分复杂，后期要依赖岩心开展的测试分析又多样，如果基础样品的选取不合理，代表性不够，或选取样品的地方不正确，那后期依赖岩心样品进行的研究成果与实际地质情况就会有很大的误差。

发明内容

本公开的目的包括提供一种岩样无损取样方法，其可以快速无损地识别矿物成分，并选出含油岩心，误差小，效率高，并保护岩样的完整性。

本公开解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的：

本公开提供的一种岩样无损取样方法，用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析，所述岩样无损取样方法包括：

识别并记录全直径岩心上的高含油层段，识别并记录所述高含油层段上的目标岩性段，得到所述取样层段。

进一步地，所述识别并记录所述全直径岩心上的高含油层段的步骤包括：

对所述全直径岩心进行显微荧光扫描，获取所述全直径岩心的荧光图像。

进一步地，所述对所述全直径岩心进行显微荧光扫描，获取所述全直径岩心的荧光图像的步骤之后，还包括：

分析所述荧光图像，进行荧光比对，筛选荧光级别大于7级的层段，得到所述高含油层段。

进一步地，所述识别并记录所述高含油层段上的目标岩性段的步骤包括：

对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段。

进一步地，所述对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段的步骤包括：

根据X射线荧光光谱报告中各元素的含量，处理解释为矿物含量，根据选样标准选取所述目标岩性段。

进一步地，所述对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段的步骤之前还包括：

根据选样标准，选取厚度大于10mm的高含油层段进行X射线荧光光谱分析。

进一步地，所述岩样无损取样方法还包括：

结合钻井岩心报告及物理参数分析报告，选取目标层段的所述全直径岩心。

进一步地，所述岩样无损取样方法还包括：

根据取样要求，在所述取样层段进行取样进行测试分析。

本公开提供的另一种岩样无损取样方法，用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析，所述岩样无损取样方法包括：

识别并记录所述全直径岩心上的目标岩性段，识别并记录所述目标岩性段上的高含油层段，得到所述取样层段。

本公开提供的又一种岩样无损取样方法，用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析，所述岩样无损取样方法包括：