[发明专利]一种岩样无损取样方法

权利要求书

1.一种岩样无损取样方法，用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析，其特征在于，所述岩样无损取样方法包括：

识别并记录全直径岩心上的高含油层段，识别并记录所述高含油层段上的目标岩性段，得到所述取样层段；

其中，所述识别并记录所述全直径岩心上的高含油层段的步骤包括：

对所述全直径岩心进行显微荧光扫描，获取所述全直径岩心的荧光图像；

分析所述荧光图像，进行荧光比对，筛选荧光级别大于7级的层段，得到所述高含油层段；

所述识别并记录所述高含油层段上的目标岩性段的步骤包括：

对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段。

2.如权利要求1所述的岩样无损取样方法，其特征在于，所述对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段的步骤包括：

根据X射线荧光光谱报告中各元素的含量，处理解释为矿物含量，根据选样标准选取所述目标岩性段。

3.如权利要求1所述的岩样无损取样方法，其特征在于，所述对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段的步骤之前还包括：

根据选样标准，选取厚度大于10mm的高含油层段进行X射线荧光光谱分析。

4.如权利要求1所述的岩样无损取样方法，其特征在于，所述岩样无损取样方法还包括：

结合钻井岩心报告及物理参数分析报告，选取目标层段的所述全直径岩心。

5.如权利要求1所述的岩样无损取样方法，其特征在于，所述岩样无损取样方法还包括：

根据取样要求，在所述取样层段进行取样进行测试分析。

6.一种岩样无损取样方法，用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析，其特征在于，所述岩样无损取样方法包括：

识别并记录所述全直径岩心上的目标岩性段，识别并记录所述目标岩性段上的高含油层段，得到所述取样层段；

其中，所述识别并记录所述全直径岩心上的高含油层段的步骤包括：

对所述全直径岩心进行显微荧光扫描，获取所述全直径岩心的荧光图像；

分析所述荧光图像，进行荧光比对，筛选荧光级别大于7级的层段，得到所述高含油层段；

所述识别并记录所述高含油层段上的目标岩性段的步骤包括：

对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段。

7.一种岩样无损取样方法，用于在全直径岩心上确定取样层段，以选取岩心样品进行测试分析，其特征在于，所述岩样无损取样方法包括：

识别并记录所述全直径岩心上不同层段的岩性，识别并记录所述全直径岩心上不同层段的含油级别，根据取样要求在所述全直径岩心上确定所述取样层段；其中，所述取样要求包括取样岩性和取样含油气性；

识别并记录所述全直径岩心上不同层段的含油级别，识别并记录所述全直径岩心上不同层段的岩性，根据取样要求在所述全直径岩心上确定所述取样层段；其中，所述取样要求包括取样岩性和取样含油气性；

其中，所述识别并记录所述全直径岩心上的高含油层段的步骤包括：

对所述全直径岩心进行显微荧光扫描，获取所述全直径岩心的荧光图像；

分析所述荧光图像，进行荧光比对，筛选荧光级别大于7级的层段，得到所述高含油层段；

所述识别并记录所述高含油层段上的目标岩性段的步骤包括：

对所述高含油层段进行X射线荧光光谱分析，并得到所述目标岩性段。