[发明专利]测试方法、装置和存储介质

说明书

本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，该方法包括：控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，源极电压为第二电压，以将像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度；控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，第二亮度的亮度值与第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值。本发明提供的测试方法使得面板中的缺陷在横向和纵向方向上都显示为亮线，便于检出，提高了检出效率。

技术领域

本发明涉及液晶显示器制造技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置和存储介质。

背景技术

液晶显示器是一种平面、超薄的显示设备。液晶显示器的功耗很低，并且具有高画质、体积小、重量轻的特点，因此倍受大家青睐，成为显示器的主流。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，而一般薄膜晶体管液晶显示器的制作可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程、彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程和液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)制备过程。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶面板进行测试，确认液晶面板是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。

现有技术中，一般采用降低液晶面板每个像素块的栅极电压，检测液晶面板中的S-GLeak(源极-栅极亮线)缺陷。

由于S-G Leak缺陷在面板的纵向和横向方向上均存在缺陷；但现有技术中的方式液晶面板纵向方向上的缺陷呈现为亮线，在横向方向上的缺陷呈现为黑线；在液晶面板呈现黑色的情况下，横向方向上的黑线缺陷不易被检出。

发明内容

本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，使得面板中的缺陷在横向和纵向方向上都显示为亮线，便于检出，提高了检出效率。

本发明的第一方面提供一种测试方法，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段为第二电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述第二电压的电压值正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压；

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为所述第三电压，并控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；所述第五预设时间段为所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段的加和；所述第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，所述第二亮度的亮度值与所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；所述第三电压为所述晶体管开关的关断电压，所述第五电压不为0V；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；

控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第一开关周期内为0V。

可选的，所述方法还包括：