[发明专利]测试方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为第二电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述第二电压的电压值正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压；

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为所述第三电压，并控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压，控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第一开关周期内为0V；所述第五预设时间段为所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段的加和；所述第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，所述第二亮度的亮度值与所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；所述第三电压为所述晶体管开关的关断电压，所述第五电压不为0V；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；

所述第四电压为能够使得无横向缺陷的像素块呈现第一亮度，并且使得有横向缺陷的像素块呈现第二亮度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制每个所述晶体管开关的源极电压在第二开关周期的第五预设时间段内为第六电压，所述第六电压和所述第五电压的大小相等且方向相反，所述第一开关周期和所述第二开关周期为相邻的开关周期；

控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第二开关周期的所述第一预设时间段内为第一电压，在所述第二预设时间段内为第三电压，在所述第三预设时间段内为第四电压，在所述第四预设时间段内为所述第三电压；

控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第二开关周期内为0V。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第四电压为可变电压，控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第三预设时间段内为第四电压，包括：

控制所述第四电压的电压值从第六电压值变为第七电压值，所述第六电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，所述第七电压值大于所述第六电压值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间段为像素块完全放电的时间。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间段为500微秒。