[发明专利]一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统

说明书

本发明提供了一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，二者均先通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result1；之后通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；之后再次通过所述的MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result2；之后计算上述记录的测试结果result1与测试结果result2对应的性能偏差，并基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。本发明用于测试AEP内存压力性能的稳定性，确保了测试结果的准确性和精度。

技术领域

本发明涉及服务器测试领域，具体是一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，用于测试AEP内存压力性能的稳定性。

背景技术

AEP(Apache Pass)内存，其采用3D XPoint技术，界于于DRAM和NAND之间，填补了DRAM和NAND之间的性能和时延GAP。从理论角度，Apache Pass DIMM比DRAM性能高出8-10倍，且具有非易失性的另一大优势。Apache Pass DIMM与Flash Flash相比，尽管二者写入方式不同，但也比Flash NAND更耐用。简单来说，AEP内存可视为一种高性能内存硬盘合体，其既可以作为内存使用(memory mode)，也可以作为存储介质使用(APD mode)。

AEP内存是intel在2017年推出的一款全新的产品，适配下一代cascade CPU，其高性能无人质疑，但其能否持续提供高性能，也是用户十分关注的。而目前，现有技术中尚未出现用于AEP内存压力性能稳定性测试的好的策略。

基于此，本发明提供了一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，用于解决上述技术问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，用于测试AEP内存压力性能的稳定性。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种AEP内存压力性能稳定性测试方法，包括：

步骤s1、通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result1；之后执行步骤s2；

步骤s2、通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；之后执行步骤s3；

步骤s3、再次通过步骤s1中所述的MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result2；之后执行步骤s4；

步骤s4、计算上述记录的测试结果result1与测试结果result2对应的性能偏差，并基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。

在步骤s4中，所述的基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：

将计算所得的性能偏差与预先设定的性能偏差阈值进行比较，若计算所得的性能偏差不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。

在步骤s2中，通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，所述FIO测试工具的fio的QD值预先设为128。

其中，步骤s1和步骤s3中所述的内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。

其中，在步骤s1之前，还包括搭建测试环境的步骤，具体包括步骤：

s01、在测试主机上安装Linux操作系统；

s02、重启测试主机，进入Linux操作系统，使用root用户登录；