[发明专利]一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统

权利要求书

1.一种AEP内存压力性能稳定性测试方法，其特征在于，包括：

步骤s1、通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result1；之后执行步骤s2；

步骤s2、通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；之后执行步骤s3；

步骤s3、再次通过步骤s1中所述的MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result2；之后执行步骤s4；

步骤s4、计算上述记录的测试结果result1与测试结果result2对应的性能偏差，并基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。

2.根据权利要求1所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法，其特征在于，在步骤s4中，所述的基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：

将计算所得的性能偏差与预先设定的性能偏差阈值进行比较，若计算所得的性能偏差不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。

3.根据权利要求1或2所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法，其特征在于，在步骤s2中，通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，所述FIO测试工具的fio的 QD值预先设为128。

4.根据权利要求1或2所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法，其特征在于，步骤s1和步骤s3中所述的内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和randomwrite。

5.一种AEP内存压力性能稳定性测试系统，其特征在于，包括：

第一次内存读写性能测试模块，用于通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试；

压力加注模块，与所述的第一次内存读写性能测试模块相连，用于通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；

第二次内存读写性能测试模块，与所述的压力加注模块相连，用于通过所述的MLC测试工具再次对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试；

存储模块，与所述的第一次内存读写性能测试模块及第二次内存读写性能测试模块分别相连，用于本系统的数据存储，包括存储第一次内存读写性能测试模块的测试结果result1、以及存储第二次内存读写性能测试模块的测试结果result2；

压力性能稳定性测试模块，与所述的存储模块相连，用于读取并计算存储模块内存储的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差，并用于基于该计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。

6.根据权利要求5所述的AEP内存压力性能稳定性测试系统，其特征在于，在上述压力性能稳定性测试模块中，所述的基于该计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：

将计算所得的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差与预先设定的性能偏差阈值进行比较，若计算所得的性能偏差不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。

7.根据权利要求5或6所述的AEP内存压力性能稳定性测试系统，其特征在于，压力加注模块通过所述FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，所述FIO测试工具的fio的 QD值预先设为128。

8.根据权利要求5或6所述的AEP内存压力性能稳定性测试系统，其特征在于，所述MLC测试工具对测试主机AEP内存进行的内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。