[发明专利]一种测试夹具的散射参数提取方法

权利要求书

1.一种测试夹具的散射参数提取方法，其特征在于，包括；

根据被测微波功率器件的封装形式，制作不包括馈线的TRL校准件，并计算所述TRL校准件的传输矩阵参数；

根据所述微波功率器件的封装形式及工作频段，制作测试夹具；

将所述测试夹具与所述TRL校准件级联，并根据所述TRL校准件的传输矩阵参数计算所述测试夹具的散射参数；

所述根据被测微波功率器件的封装形式，制作不包括馈线的TRL校准件，并计算TRL校准件的传输矩阵参数，包括：

根据被测微波功率器件的封装形式，制作不包括馈线的TRL校准件，并测试得到所述TRL校准件的散射参数；

根据所述TRL校准件的散射参数，计算所述TRL校准件的传输矩阵参数；

根据所述TRL校准件的传输矩阵参数，计算所述TRL校准件的输入端校准夹具的传输矩阵参数和输出端校准夹具的传输矩阵参数；

所述将所述测试夹具与所述TRL校准件级联，并根据所述TRL校准件的传输矩阵参数计算所述测试夹具的散射参数，包括：

将所述测试夹具与所述TRL校准件级联，并根据所述TRL校准件的传输矩阵参数计算所述测试夹具的传输矩阵参数；

根据所述测试夹具的传输矩阵参数，计算所述测试夹具的散射参数；

所述测试夹具包括输入端测试夹具和输出端测试夹具；所述将所述测试夹具与所述TRL校准件级联，并根据所述TRL校准件的传输矩阵参数计算所述测试夹具的传输矩阵参数，包括：

将所述输入端校准夹具和所述输出端测试夹具级联，得到第一级联网络，并测试第一级联网络的传输矩阵参数；

根据所述第一级联网络的传输矩阵参数及所述输入端校准夹具的传输矩阵参数，得到所述输出端测试夹具的传输矩阵参数；

将所述输出端校准夹具和所述输入端测试夹具级联，得到第二级联网络，并测试所述第二级联网络的传输矩阵参数；

根据所述第二级联网络的传输矩阵参数及所述输出端校准夹具的传输矩阵参数，得到所述输入端测试夹具的传输矩阵参数。

2.如权利要求1所述的测试夹具的散射参数提取方法，其特征在于，所述TRL校准件包括直通校准件和延迟校准件，所述根据所述TRL校准件的传输矩阵参数，计算所述TRL校准件的输入端校准夹具的传输矩阵参数和所述输出端校准夹具的传输矩阵参数，包括：

将所述直通校准件的输入端校准夹具和输出端校准夹具级联，并将所述延迟校准件的输入端校准夹具、中间延迟线单元和输出端校准夹具级联；

根据所述直通校准件的传输矩阵参数、所述延迟校准件的传输矩阵参数和所述延迟校准件的中间延迟线单元的传输参数，计算所述输入端校准夹具的传输矩阵参数和所述输出端校准夹具的传输矩阵参数。

3.如权利要求2所述的测试夹具的散射参数提取方法，其特征在于，所述根据所述直通校准件的传输矩阵参数、所述延迟校准件的传输矩阵参数和所述延迟校准件的中间延迟线单元的传输参数，计算所述输入端校准夹具的传输矩阵参数和所述输出端校准夹具的传输矩阵参数，包括：

根据第一计算公式、所述直通校准件的传输矩阵参数、所述延迟校准件的传输矩阵参数和所述延迟校准件的中间延迟线单元的传输参数，计算所述输入端校准夹具的传输矩阵参数和所述输出端校准夹具的传输矩阵参数；

所述第一计算公式为：

其中，T(thru)表示所述直通校准件的传输矩阵参数，T(A)表示所述输入端校准夹具的传输矩阵参数，T(B)表示所述输出端校准夹具的传输矩阵参数，T(line)表示所述输入端校准夹具的传输矩阵参数，T(L)表示所述延迟校准件的中间延迟线单元的传输参数。

4.如权利要求1所述的测试夹具的散射参数提取方法，其特征在于，所述根据所述微波功率器件的封装形式及工作频段，制作测试夹具，包括：

根据所述微波功率器件的封装形式及工作频段，制作包含馈线及所述馈线相关电路的测试夹具。