[发明专利]存储器的调试处理方法及其调试处理系统

说明书

本申请涉及存储器测试技术领域，具体而言，涉及一种存储器的调试处理方法及其调试处理系统。该存储器的调试处理方法包括：获取原始测试代码；通过原始测试代码对存储器进行测试；在测试过程中检测到存储器出现错误时，提取原始测试代码中的原生测试代码，原生测试代码仅包括操作指令，且操作指令包括设置指令、读指令、写指令中的一种或多种；确认原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令，此操作指令为待验证操作指令；将待验证操作指令替换为通过测试的操作指令或空操作指令并再次对存储器进行测试，若存储器未出现错误，则待验证操作指令为错误指令。该技术方案能够快速定位错误代码，从而能够提高存储器的调试效率。

技术领域

本申请涉及存储器测试技术领域，具体而言，涉及一种存储器的调试处理方法及其调试处理系统。

背景技术

存储器的主要功能是存储程序和各种数据，并能在计算机的运行过程中高速、自动地完成程序或数据的存取。在存储器的使用之前，需要对其进行功能测试。

相关技术中，在测试过程中，测试代码数据庞大，出现的问题也是随机的，因此，不容易定位错误代码，从而降低了存储器的调试效率。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本申请的目的在于提供一种存储器的调试处理方法及其调试处理系统，能够快速定位错误代码，从而能够提高存储器的调试效率。

本申请第一方面提供了一种存储器的调试处理方法，其包括：

获取原始测试代码；

通过所述原始测试代码对所述存储器进行测试；

在测试过程中检测到所述存储器出现错误时，提取所述原始测试代码中的原生测试代码，所述原生测试代码仅包括操作指令，所述操作指令包括设置指令、读指令、写指令中的一种或多种；

确认所述原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令，所述操作指令为待验证操作指令；

将所述待验证操作指令替换为通过测试的操作指令或空操作指令并再次对所述存储器进行测试，若所述存储器未出现错误，则所述待验证操作指令为错误指令。

在本申请的一个示例性实施例中，所述提取所述原始测试代码中的原生测试代码，包括：

检测所述原始测试代码的指令中是否存在空操作指令；

在检测到所述原始测试代码的指令中存在所述空操作指令时，判断所述空操作指令中是否存在读数据或写数据；

在判断出所述空操作指令中不存在所述读数据或所述写数据时，将所述原始测试代码中的所述空操作指令删除，以提取所述原生测试代码。

在本申请的一个示例性实施例中，在所述提取所述原始测试代码中的原生测试代码之前，还包括：

检测所述原始测试代码中是否包括循环语句；

在所述原始测试代码包括循环语句时，将所述循环语句中的指令展开；

对所述原始测试代码中的指令进行处理，使得所述原始测试代码中的各指令中的数据整理成一行。

在本申请的一个示例性实施例中，在提取所述原始测试代码中的原生测试代码之后，且在所述确认所述原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令之前，还包括：

检测所述原生测试代码中的操作指令是否包括读指令或写指令；

在检测到所述原生测试代码包括所述读指令或写指令时，将所述读指令或所述写指令的数据中的标识符号删除。