[发明专利]存储器的调试处理方法及其调试处理系统有效

专利信息
申请号: 201811260457.0 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN111104267B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 袁礼君;阚梓瑄
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 存储器 调试 处理 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种存储器的调试处理方法,其特征在于,包括:

获取原始测试代码;

通过所述原始测试代码对所述存储器进行测试;

在测试过程中检测到所述存储器出现错误时,提取所述原始测试代码中的原生测试代码,所述原生测试代码仅包括操作指令,所述操作指令包括设置指令、读指令、写指令中的一种或多种;

确认所述原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令,所述操作指令为待验证操作指令;

将所述待验证操作指令替换为通过测试的操作指令或空操作指令并再次对所述存储器进行测试,若所述存储器未出现错误,则所述待验证操作指令为错误指令;

其中,所述提取所述原始测试代码中的原生测试代码,包括:

检测所述原始测试代码的指令中是否存在空操作指令;

在检测到所述原始测试代码的指令中存在所述空操作指令时,判断所述空操作指令中是否存在读数据或写数据;

在判断出所述空操作指令中不存在所述读数据或所述写数据时,将所述原始测试代码中的所述空操作指令删除,以提取所述原生测试代码。

2.根据权利要求1所述的调试处理方法,其特征在于,在所述提取所述原始测试代码中的原生测试代码之前,还包括:

检测所述原始测试代码中是否包括循环语句;

在所述原始测试代码包括循环语句时,将所述循环语句中的指令展开;

对所述原始测试代码中的指令进行处理,使得所述原始测试代码中的各指令中的数据整理成一行。

3.根据权利要求1所述的调试处理方法,其特征在于,在提取所述原始测试代码中的原生测试代码之后,且在所述确认所述原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令之前,还包括:

检测所述原生测试代码中的操作指令是否包括读指令或写指令;

在检测到所述原生测试代码包括所述读指令或写指令时,将所述读指令或所述写指令的数据中的标识符号删除。

4.根据权利要求1所述的调试处理方法,其特征在于,在提取所述原始测试代码中的原生测试代码之后,且在所述确认所述原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令之前,还包括:

根据所述存储器的空闲状态将所述原生测试代码划分成多个子模块,各所述子模块包括操作指令。

5.根据权利要求4所述的调试处理方法,其特征在于,所述确认所述原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令,包括:

根据错误出现的时间点定位错误出现的位置;

基于所述错误出现的位置,查找到待验证子模块,所述待验证子模块为包括所述错误出现的位置的所述子模块;

确认所述待验证子模块中与所述错误出现的位置相对应的操作指令为所述待验证操作指令。

6.根据权利要求5所述的调试处理方法,其特征在于,在所述确认所述待验证子模块与所述错误出现的位置相对应的操作指令为所述待验证操作指令之后,且在所述将所述待验证操作指令替换为通过测试的操作指令或空操作指令并再次对所述存储器进行测试之前,包括:

在所述待验证操作指令为读指令时,确认与所述读指令相对应的写指令所在的子模块,所述子模块为相应子模块;

检测所述待验证子模块和所述相应子模块中是否包括设置指令;

在检测到所述待验证子模块和所述相应子模块中包括所述设置指令时,保留所述待验证子模块和所述相应子模块中的设置指令,并将所述待验证操作指令中其他读指令和所述相应子模块中与所述其他读指令相对应的其他写指令删除。

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