[发明专利]平板探测器、其检测方法及X射线探测装置有效
申请号: | 201811228179.0 | 申请日: | 2018-10-22 |
公开(公告)号: | CN109490933B | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 张郑欣;徐帅 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平板 探测器 检测 方法 射线 探测 装置 | ||
本发明公开了一种平板探测器、其检测方法及X射线探测装置,通过设置数据处理单元、与每一条数据线一一对应的电压检测单元、与每一条数据线一一对应的开关控制单元以及与每一条数据线一一对应的信号输出单元;通过这些单元的相互配合,可以对平板探测器的短路问题进行检测,并将存在短路问题的数据线与信号输出单元断开,这样在图像识别阶段,可以通过信号输出单元在与对应的数据线导通时,向图像信号输出端输出第二检测电压,从而在图像识别阶段可以使存在短路问题的数据线不进行工作,进而可以改善短路对图像显示的影响。
技术领域
本发明涉及探测技术领域,特别涉及一种平板探测器、其检测方法及X射线探测装置。
背景技术
现有的X射线探测装置通常采用平板探测器,以将X射线信息转化为数字图像信息。一般平板探测器包括交叉设置的多条栅线和多条数据线,以及由栅线和数据线限定的光敏像素,各光敏像素中可以包括光电二极管和与光电二极管耦接的薄膜晶体管(ThinFilm Transistor,TFT)。并且,TFT还与栅线和数据线连接。在工作时,通过位于平板探测器表面的闪烁体将透过人体后衰减的X射线转换为可见光,光电二极管将可见光转换为电信号,在光电二极管自身的电容上形成存储电荷,通过栅线传输的栅极扫描信号驱动各光敏像素打开,以通过光敏像素连接的数据线读出各个光敏像素的存储电荷,从而根据存储电荷形成X射线数字影像。然而,在平板探测器的工艺制程中可能会发生划伤或静电击穿,导致栅线和数据线交叠处出现短路问题。由于短路问题的出现,导致通过数据线读取的存储电荷不准确,从而导致形成的X射线数字影像异常。
发明内容
本发明实施例提供一种平板探测器、其检测方法及X射线探测装置,用以改善通过短路的数据线读取的存储电荷不准确,导致形成的X射线数字影像异常的问题。
因此,本发明实施例提供了一种平板探测器,包括:交叉设置的多条栅线和多条数据线,还包括:数据处理单元、与每一条所述数据线一一对应的电压检测单元、与每一条所述数据线一一对应的开关控制单元以及与每一条所述数据线一一对应的信号输出单元;
所述开关控制单元用于在第一控制信号的控制下,将对应的所述数据线和所述电压检测单元导通且将对应的所述数据线和所述信号输出单元断开;在第二控制信号的控制下,将对应的所述数据线和所述电压检测单元断开且将对应的所述数据线和所述信号输出单元导通;
所述电压检测单元用于在与对应的数据线导通时,根据所述数据线上的电压与第一参考电压,向所述数据处理单元输出与所述数据线对应的第一检测电压;
所述信号输出单元用于在图像识别阶段,在与对应的数据线导通时,向图像信号输出端输出第二检测电压;
所述数据处理单元用于在短路检测阶段,使各所述栅线传输预设电压且同时向各所述开关控制单元输出所述第一控制信号;针对每一所述数据线,在所述数据线对应的第一检测电压不小于阈值电压时,向所述数据线对应的开关控制单元输出所述第一控制信号,在所述数据线对应的第一检测电压小于所述阈值电压时,向所述数据线对应的开关控制单元输出所述第二控制信号。
可选地,在本发明实施例中,所述电压检测单元包括:减法器、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及第四电阻;
所述第一电阻的第一端与对应的数据线耦接,所述第一电阻的第二端与所述减法器的正相输入端耦接;
所述第二电阻的第一端与所述减法器的正相输入端耦接,所述第二电阻的第二端与接地端耦接;
所述第三电阻的第一端用于接收所述第一参考电压,所述第三电阻的第二端与所述减法器的负相输入端耦接;
所述第四电阻的第一端与所述减法器的负相输入端耦接,所述第四电阻的第二端与所述减法器的输出端耦接,用于输出所述第一检测电压。
可选地,在本发明实施例中,所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三电阻以及所述第四电阻的电阻值相同。
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