[发明专利]平板探测器、其检测方法及X射线探测装置有效
申请号: | 201811228179.0 | 申请日: | 2018-10-22 |
公开(公告)号: | CN109490933B | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 张郑欣;徐帅 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平板 探测器 检测 方法 射线 探测 装置 | ||
1.一种平板探测器,包括:交叉设置的多条栅线和多条数据线,其特征在于,还包括:数据处理单元、与每一条所述数据线一一对应的电压检测单元、与每一条所述数据线一一对应的开关控制单元以及与每一条所述数据线一一对应的信号输出单元;
所述开关控制单元用于在第一控制信号的控制下,将对应的所述数据线和所述电压检测单元导通且将对应的所述数据线和所述信号输出单元断开;在第二控制信号的控制下,将对应的所述数据线和所述电压检测单元断开且将对应的所述数据线和所述信号输出单元导通;
所述电压检测单元用于在与对应的数据线导通时,根据所述数据线上的电压与第一参考电压,向所述数据处理单元输出与所述数据线对应的第一检测电压;
所述信号输出单元用于在图像识别阶段,在与对应的数据线导通时,向图像信号输出端输出第二检测电压;
所述数据处理单元用于在短路检测阶段,使各所述栅线传输预设电压且同时向各所述开关控制单元输出所述第一控制信号;针对每一所述数据线,在所述数据线对应的第一检测电压不小于阈值电压时,向所述数据线对应的开关控制单元输出所述第一控制信号,在所述数据线对应的第一检测电压小于所述阈值电压时,向所述数据线对应的开关控制单元输出所述第二控制信号。
2.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述电压检测单元包括:减法器、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及第四电阻;
所述第一电阻的第一端与对应的数据线耦接,所述第一电阻的第二端与所述减法器的正相输入端耦接;
所述第二电阻的第一端与所述减法器的正相输入端耦接,所述第二电阻的第二端与接地端耦接;
所述第三电阻的第一端用于接收所述第一参考电压,所述第三电阻的第二端与所述减法器的负相输入端耦接;
所述第四电阻的第一端与所述减法器的负相输入端耦接,所述第四电阻的第二端与所述减法器的输出端耦接,用于输出所述第一检测电压。
3.如权利要求2所述的平板探测器,其特征在于,所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三电阻以及所述第四电阻的电阻值相同。
4.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述开关控制单元包括:第一开关和第二开关;
所述第一开关的输入端与对应的数据线耦接,所述第一开关的输出端与对应的电压检测单元耦接,所述第一开关的控制端与所述数据处理单元耦接,用于接收所述第一控制信号和所述第二控制信号;
所述第二开关的输入端与对应的数据线耦接,所述第二开关的输出端与对应的信号输出单元耦接,所述第二开关的控制端与所述数据处理单元耦接,用于接收所述第一控制信号和所述第二控制信号。
5.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述数据处理单元包括:第一处理器。
6.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述平板探测器还包括:图像处理单元和由所述栅线和所述数据线限定的光敏像素;其中,一行所述光敏像素对应耦接一条所述栅线,一列所述光敏像素对应耦接一条所述数据线;
所述信号输出单元具体用于在与对应的数据线导通且所述数据线耦接的光敏像素打开时,根据连接的数据线上的电压与第二参考电压,向所述图像信号输出端输出与所述数据线耦接且打开的光敏像素对应的第二检测电压;
所述图像处理单元用于在图像识别阶段,逐行驱动每一行中各所述光敏像素打开;以及接收所述第二检测电压,根据接收到的所述第二检测电压,确定对应所述第二检测电压的光敏像素的灰度值。
7.如权利要求6所述的平板探测器,其特征在于,所述信号输出单元包括:运算放大器和积分电容;
所述运算放大器的正相输入端用于接收所述第二参考电压,所述运算放大器的负相输入端与所述开关控制单元耦接,所述运算放大器的输出端与所述图像信号输出端耦接;
所述积分电容的第一端与所述运算放大器的负相输入端耦接,所述积分电容的第二端与所述运算放大器的输出端耦接。
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