[发明专利]半导体器件及使用其的半导体系统

说明书

本发明提供一种半导体器件及使用其的半导体系统。所述半导体器件可以包括分频器电路和检测电路。所述分频器电路可以将外部时钟分频以产生多个分频时钟。所述检测电路可以基于多个数据判断信号和所述多个分频时钟来产生相位信息信号和定时信息信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年10月19日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2017-0135926的韩国申请的优先权，其通过引用整体合并于此。

技术领域

各种实施例总体而言可以涉及一种半导体器件和使用其的半导体系统，更具体地，涉及一种半导体集成电路和使用其的半导体系统。

背景技术

随着半导体器件变得更快，使信号同步的重要性也增加。例如，可以使输入信号或输出信号同步于完整的时钟信号。然而，为了从执行同步中的分频时钟恢复完整的时钟信号，使用时钟斩波器电路。这可能涉及大的时钟缓冲器和增加的功耗。

发明内容

根据本公开的一个实施例，一种半导体器件可以包括分频器电路和检测电路。所述分频器电路可以将外部时钟分频以产生多个分频时钟。所述检测电路可以基于控制信号、多个数据判断信号和所述多个分频时钟来产生相位信息信号和定时信息信号。

根据本公开的另一个实施例，一种半导体器件可以包括分频器电路和检测电路。所述分频器电路可以将外部时钟分频以产生第一分频时钟和第二分频时钟。所述检测电路可以基于控制信号、第一数据判断信号、第二数据判断信号、所述第一分频时钟和所述第二分频时钟来产生相位信息信号和定时信息信号。所述第一分频时钟和所述第二分频时钟可以具有实质上90度的相位差。所述第一数据判断信号和所述第二数据判断信号可以具有实质上相反的相位。

根据本公开的另外的实施例，一种半导体系统可以包括控制器和半导体器件。所述控制器可以提供数据判断信号、命令和外部时钟。所述半导体器件可以包括检测电路。所述检测电路可以基于控制信号而将所述数据判断信号的相位与分频时钟的相位相比较以产生相位信息信号，和/或响应于控制信号而将所述数据判断信号的相位与写入脉冲的相位相比较以产生定时信息信号。

附图说明

参照下面列出的附图来详细描述本公开的主题的方面、特征和优点。

图1示出了图示根据本教导的一个实施例的半导体器件的框图。

图2示出了图示根据本教导的一个实施例的检测电路的框图。

图3示出了图示根据本教导的一个实施例的半导体器件的操作的时序图。

图4示出了图示根据本教导的一个实施例的半导体器件的操作的时序图。

图5示出了图示根据本教导的一个实施例的包括半导体器件的半导体系统的框图。

具体实施方式

参照附图来详细描述本发明的各个实施例。附图是各个实施例(以及中间结构)的示意图。如此，可以预期示图因例如制造技术和/或公差而产生的配置和形状的变化。因此，所描述的实施例不应当被理解成局限于本文中所图示的特定配置和形状，而是可以根据所附权利要求书中限定的本发明的精神和范围而包括在配置和形状上的偏差。

在本文中参照本发明的理想实施例的剖视图和/或平面图来描述本发明。然而，本发明的实施例不应当被理解成限制发明构思。虽然示出和描述了本教导的有限数量的实施例，但是本领域技术人员将认识到，在不脱离本发明的原理和精神的情况下，可以在这些实施例中作出改变。示例性实施例包括能够判断信号与时钟的同步定时以及检测时钟和信号的相位的半导体器件。

图1示出了图示根据本教导的一个实施例的半导体器件60的框图。

参见图1，半导体器件可以包括分频器电路100和检测电路200。符合实施例的、可以被包括在半导体器件60中的额外的组件在图5中示出。