[发明专利]半导体器件及使用其的半导体系统有效
| 申请号: | 201811214991.8 | 申请日: | 2018-10-18 |
| 公开(公告)号: | CN109687854B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
| 发明(设计)人: | 金暎勋 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号: | H03K5/15 | 分类号: | H03K5/15;H03K5/24;H03B19/00 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;郭放 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体器件 使用 半导体 系统 | ||
1.一种半导体器件,包括:
分频器电路,用于将外部时钟分频以产生多个分频时钟;以及
检测电路,用于接收控制信号、多个数据判断信号和所述多个分频时钟,以及基于所述控制信号、所述多个数据判断信号和所述多个分频时钟来产生相位信息信号和定时信息信号。
2.如权利要求1所述的半导体器件,其中,产生所述相位信息信号包括:产生所述相位信息信号以包括与所述外部时钟和所述多个数据判断信号之间的相位差有关的信息,以及其中,产生所述定时信息信号包括:产生所述定时信息信号以包括与用于判断输入到所述半导体器件中的信号的所述多个数据判断信号中的任意数据判断信号有关的信息。
3.如权利要求1所述的半导体器件,其中,所述检测电路在所述控制信号被禁止时基于所述多个分频时钟和所述多个数据判断信号来产生所述定时信息信号,以及其中,所述检测电路在所述控制信号被使能时基于所述多个分频时钟和所述多个数据判断信号来产生所述相位信息信号。
4.如权利要求3所述的半导体器件,其中,所述检测电路包括:
多个比较电路,用于在所述多个数据判断信号的特定定时处输出所述多个分频时钟的电平;
相位信息信号发生电路,用于在所述控制信号被使能时基于来自所述多个比较电路的输出信号来产生所述相位信息信号;以及
定时信息信号发生电路,用于在所述控制信号被禁止时基于来自所述多个比较电路之中的一组比较电路的输出信号来产生所述定时信息信号。
5.如权利要求4所述的半导体器件,其中,所述相位信息信号发生电路被配置成在产生所述相位信息信号中判断来自所述多个比较电路的输出信号的电平是否实质上相同。
6.如权利要求4所述的半导体器件,其中,所述定时信息信号发生电路被配置成基于来自所述一组比较电路的输出信号的电平来产生所述定时信息信号。
7.一种半导体器件,包括:
分频器电路,用于将外部时钟分频以产生第一分频时钟和第二分频时钟;以及
检测电路,用于接收控制信号、第一数据判断信号、第二数据判断信号、所述第一分频时钟和所述第二分频时钟,以及基于所述控制信号、所述第一数据判断信号、所述第二数据判断信号、所述第一分频时钟和所述第二分频时钟来产生相位信息信号和定时信息信号,
其中,所述第一分频时钟和所述第二分频时钟具相位差,以及其中,所述第一数据判断信号和所述第二数据判断信号具有实质上相反的相位。
8.如权利要求7所述的半导体器件,其中,所述检测电路在所述控制信号被使能时基于所述第一分频时钟和所述第二分频时钟以及所述第一数据判断信号和所述第二数据判断信号来产生所述相位信息信号,以及其中,所述检测电路在所述控制信号被禁止时响应于所述第一分频时钟以及所述第一数据判断信号和所述第二数据判断信号来产生所述定时信息信号。
9.如权利要求8所述的半导体器件,其中,所述检测电路包括:
第一比较电路,用于在所述第一数据判断信号的上升沿输出所述第一分频时钟的电平;
第二比较电路,用于在所述第二数据判断信号的上升沿输出所述第一分频时钟的电平;
第三比较电路,用于在所述第一数据判断信号的上升沿输出所述第二分频时钟的电平;
第四比较电路,用于在所述第二数据判断信号的上升沿输出所述第二分频时钟的电平;
相位信息信号发生电路,用于在所述控制信号被使能时基于来自所述第一比较电路、所述第二比较电路、所述第三比较电路和所述第四比较电路的输出信号来产生所述相位信息信号;以及
定时信息信号发生电路,用于在所述控制信号被禁止时基于来自所述第一比较电路和所述第二比较电路的输出信号来产生所述定时信息信号。
10.如权利要求9所述的半导体器件,其中,所述第一比较电路、所述第二比较电路、所述第三比较电路和所述第四比较电路包括至少一个触发器。
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