[发明专利]显示面板的测试电路布局构造

说明书

一种显示面板的测试电路布局构造，包括：一COF接合区、二电源导体区、一测试电路区、二测试垫区及二静电保护区，所述COF接合区的二端连通所述二电源导体区，所述二电源导体区朝向一有效区域延伸，所述测试电路区位于所述COF接合区与所述二电源导体区之间，所述二测试垫区、所述二静电保护区分布于所述COF接合区的二侧，由所述测试垫区延伸数条走线，用以耦接所述静电保护区、所述COF接合区及所述测试电路区，所述走线的电阻率与所述电源导体区的电阻率相同，所述走线绕开同层设置的所述电源导体区，或者，所述走线与所述电源导体区绝缘地交叠。

技术领域

本发明是有关于一种显示器的测试电路布局构造，特别是有关于一种显示面板的测试电路布局构造。

背景技术

随着科技的不断发展，对平面显示器的要求越来越高。举例而言，有机发光二极管(OLED)显示器具有边框窄、制成重量轻、可卷曲、易于携带等诸多优势，受到了人们的广泛关注，成为时代的主流。

在一般OLED显示器件的制备过程中，通常包括四个阶段：Array、EL(electroluminescence)、TFE(thin-film encapsulation)及Module。在制备过程中，对产品各个阶段性能的测试，显得尤为重要，因为这将决定产品的良率、可靠性等特性。

在常规的柔性(flexible)OLED结构中,都会存在Array Tester和Cell Test 的电路设计，目的是为了在Array阶段和EL阶段结束后，检测产品的性能是否符合规格，确定产品有没有继续生产的必要性，以减少资源损耗。在EL 阶段结束后进行的Cell Test也为后续产品如何供给讯号以进行驱动奠定基础，因此，Cell Test的结果显得尤为重要。

但是，基于现有的常规设计，对于COF(chip on film)类型的面板(panel)，在进行Cell Test测试时会存在一些混色问题。因此，现有技术存在缺陷，急需改进。

发明内容

有鉴于此，本发明提供多种显示面板的测试电路布局构造，以解决现有技术进行面板测试时存在的混色问题。

为了解决前述问题，本发明的一个方面提供一种显示面板的测试电路布局构造，所述显示面板具有一面板轮廓，所述面板轮廓内定义在一有效区域周围的一边界布局区，所述边界布局区用以设置所述测试电路布局构造，所述测试电路布局构造包括：一COF接合区、二电源导体区、一测试电路区、二测试垫区及二静电保护区，所述COF接合区的二端连通所述二电源导体区，所述二电源导体区朝向所述有效区域延伸，所述测试电路区位于所述COF接合区与所述二电源导体区之间，所述二测试垫区、所述二静电保护区分布于所述COF接合区的二侧；其中，由所述测试垫区延伸数条走线，用以耦接所述静电保护区、所述COF接合区及所述测试电路区，所述走线的电阻率与所述电源导体区的电阻率相同，所述走线绕开同层设置的所述电源导体区，或者，所述走线与所述电源导体区绝缘地交叠。

在本发明的一实施例中，位于所述COF接合区同一侧的所述测试垫区位于所述静电保护区与所述电源导体区之间。

在本发明的一实施例中，所述COF接合区、所述测试电路区、所述测试垫区及所述静电保护区通过数个层叠且相互绝缘的金属层耦接，所述数个金属层包括一第一金属层、一第二金属层及一第三金属层，所述第三金属层的电阻率小于所述第一金属层及所述第二金属层的电阻率，所述第一金属层形成由所述测试电路区的二侧朝向所述二电源导体区延伸的数个第一区段，所述第二金属层形成由所述测试电路区的二侧朝向所述二电源导体区延伸的数个第二区段，所述COF接合区内的一布局及所述电源导体区由所述第三金属层形成，所述第三金属层还形成数个第三区段，所述数个第三区段分别由所述测试垫区横越所述静电保护区内的一布局，并转折而远离所述二电源导体区，以横越所述COF接合区内的布局，并延伸至所述测试电路区与所述二电源导体区之间，以个别地耦接所述第一区段及所述第二区段。