[发明专利]系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法

说明书

本发明提供一种系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法。该系统芯片包含一模拟前端电路、一数字实体层电路以及一内建自我测试电路。该数字实体层电路耦接至该模拟前端电路，且该内建自我测试电路耦接至该数字实体层电路并且用来借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试。

技术领域

本发明系关于系统芯片测试，尤指一种系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法。

背景技术

在进行一系统芯片的模拟前端电路的测试/验证时，需要启动该系统芯片中的大部分的模块来进行。举例来说，在进行测试时，需要启动存储器(例如动态随机存取存储器(dynamic random access memory，DRAM))来储存对应于测试流程的程序代码，并利用中央处理单元(central processing unit，CPU)执行该程序代码以控制其他模块于测试流程中进行对应的操作。如此一来，在量产测试时需要的设定时间较长，成本也较高。因此，需要一种新颖的芯片架构及测试方法，以在没有副作用或较不可能带来副作用之状况下提升系统芯片的测试效率。

发明内容

本发明一目的在于提供一种系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法，以解决上述问题。

本发明另一目的在于提供一种系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法，以在没有副作用或较不可能带来副作用的状况下提升系统芯片的测试效率。

本发明的至少一实施例提供一种系统芯片(chip)，其中该系统芯片包含一模拟前端(analog front end，AFE)电路、一数字实体层(digital physical layer，digital PHY)电路以及一内建自我测试(built-in self-test，BIST)电路。该数字实体层电路耦接至该模拟前端电路，且该内建自我测试电路耦接至该数字实体层电路并且用来借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试。举例来说，于该模拟前端电路的测试的期间，该内建自我测试电路产生一第一输入信号，并将该第一输入信号传送至该数字实体层电路。该数字实体层电路依据该第一输入信号产生一第二输入信号，并将该第二输入信号传送至该模拟前端电路。该模拟前端电路依据该第二输入信号产生一第一输出信号，并将该第一输出信号传送至该数字实体层电路。该数字实体层电路依据该第一输出信号产生一第二输出信号，并将该第二输出信号传送至该内建自我测试电路。该内建自我测试电路依据该第二输出信号产生一或多个测试结果，以判断该模拟前端电路是否通过该测试。另外，该第一输入信号以及该第二输出信号为频域(frequency domain)中的信号，而该第二输入信号以及该第一输出信号为时域(time domain)中的信号。

本发明的至少一实施例提供一种内建自我测试电路，适用于一系统芯片，其中该系统芯片包含一模拟前端电路、一数字实体层电路以及该内建自我测试电路，且该内建自我测试电路包含一中央控制单元(central control unit，CCU)，用来控制该内建自我测试电路，以借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试。举例来说，于该模拟前端电路的测试的期间，该内建自我测试电路产生一第一输入信号，并将该第一输入信号传送至该数字实体层电路。该数字实体层电路依据该第一输入信号产生一第二输入信号，并将该第二输入信号传送至该模拟前端电路。该模拟前端电路依据该第二输入信号产生一第一输出信号，并将该第一输出信号传送至该数字实体层电路。该数字实体层电路依据该第一输出信号产生一第二输出信号，并将该第二输出信号传送至该内建自我测试电路。该内建自我测试电路依据该第二输出信号产生一或多个测试结果，以判断该模拟前端电路是否通过该测试。另外，该第一输入信号以及该第二输出信号为频域中的信号，而该第二输入信号以及该第一输出信号为时域中的信号。