[发明专利]系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法

权利要求书

1.一种系统芯片，包含：

一模拟前端电路；

一数字实体层电路，耦接至该模拟前端电路；以及

一内建自我测试电路，耦接至该数字实体层电路，用来借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试，其中于该模拟前端电路的测试的期间：

该内建自我测试电路产生一第一输入信号，并将该第一输入信号传送至该数字实体层电路；

该数字实体层电路依据该第一输入信号产生一第二输入信号，并将该第二输入信号传送至该模拟前端电路；

该模拟前端电路依据该第二输入信号产生一第一输出信号，并将该第一输出信号传送至该数字实体层电路；

该数字实体层电路依据该第一输出信号产生一第二输出信号，并将该第二输出信号传送至该内建自我测试电路；以及

该内建自我测试电路依据该第二输出信号产生一或多个测试结果，以判断该模拟前端电路是否通过该测试；

其中该第一输入信号以及该第二输出信号为频域中的信号，而该第二输入信号以及该第一输出信号为时域中的信号。

2.如权利要求1所述的系统芯片，该内建自我测试电路包含：

一中央控制单元，用来控制该内建自我测试电路，以借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试；

一传输接口电路，耦接至该中央控制单元，其中该中央控制单元通过该传输接口电路接收来自外部的设定参数以及一或多个判定条件；

一信号产生器，耦接至该中央控制单元，其中该中央控制单元依据多个所述设定参数控制该信号产生器产生该第一输入信号；以及

一检查电路，耦接至该中央控制单元，其中该中央控制单元将该一或多个判定条件传送至该检查电路，并控制该检查电路依据该一或多个判定条件以及该一或多个测试结果判断该模拟前端电路是否通过该测试。

3.如权利要求2所述的系统芯片，其中当该一或多个测试结果中的至少一者未通过对应的判定条件时，该检查电路产生一通知信号以指出该测试失败。

4.如权利要求1所述的系统芯片，其中该模拟前端电路包含：

一发送器，用来接收该第二输入信号；以及

一接收器，用来将该第一输出信号传送至该数字实体层电路，其中基于该模拟前端电路的一配置，该接收器的一接收端子被耦接至该发送器的一发送端子，以接收该发送端子上的一传输信号作为该接收端子上的一接收信号。

5.如权利要求1所述的系统芯片，其中该数字实体层电路包含：

一发送器缓冲电路，用来对该第一输入信号进行缓冲处理；

一逆向快速傅立叶转换电路，耦接至该发送器缓冲电路，用来将该第一输入信号转换为时域中的一转换后信号；

一第一模拟前端数字电路，耦接至该逆向快速傅立叶转换电路，用来对来自该逆向快速傅立叶转换电路的该转换后信号进行升频以产生该第二输入信号；

一第二模拟前端数字电路，用来对该第一输出信号进行降频以产生一降频后信号；

一快速傅立叶转换电路，耦接至该第二模拟前端数字电路，用来将来自该第二模拟前端数字电路的该降频后信号转换为频域中的该第二输出信号；以及

一接收器缓冲电路，用来对该第二输出信号进行缓冲处理。

6.如权利要求1所述的系统芯片，其中该一或多个测试结果包含信噪比。