[发明专利]芯片组装方法及芯片组装器件在审
| 申请号: | 201811127401.8 | 申请日: | 2018-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN109449112A | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
| 发明(设计)人: | 陈立军;戴风伟 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
| 代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 马永芬 |
| 地址: | 214135 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 芯片组装 组装 载板 组装过程 芯片 去除 强度增加 中芯片 翘曲 破裂 支撑 | ||
本发明提供了一种芯片组装方法和芯片组装器件,其中,该芯片组装方法,包括如下步骤:将具有载板的芯片进行组装;组装后去除所述载板。该方法在组装过程中芯片带着载板进行组装,组装完成后再去除载板,故在组装过程中由于载板的支撑,芯片的强度增加,解决了芯片在组装过程中因芯片破裂或者翘曲导致组装失效的问题。
技术领域
本发明涉及半导体领域,具体涉及一种芯片组装方法和芯片组装器件。
背景技术
目前,组装CIS、TSV转接板或其它芯片的厚度会越来越薄。由于芯片厚度的限制,芯片的强度很低,在吸取、拿持或者组装过程中容易发生破裂。同时芯片很薄会导致芯片翘曲,从而导致组装失效。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种芯片组装方法和芯片组装器件,以解决芯片在组装过程中因芯片破裂或者翘曲导致组装失效的问题。
为此,本发明提供如下技术方案:
本发明第一方面,提供一种芯片组装方法,包括如下步骤:将具有载板的芯片进行组装;组装后去除所述载板。
可选地,将所述具有载板的芯片进行组装的步骤之前,还包括:将键合后的器件晶圆与载片晶圆进行切割,得到若干具有载板的芯片。
可选地,将键合后的器件晶圆与载片晶圆进行切割的步骤之前,还包括:将器件晶圆与载片晶圆进行临时键合;在键合后的所述器件晶圆上形成引出端子。
可选地,在键合后的所述器件晶圆上形成引出端子的步骤之前,还包括:对所述器件晶圆进行减薄。
可选地,采用临时键合材料将器件晶圆与载片晶圆进行键合。
可选地,所述临时键合材料包括临时键合胶或者薄膜。
可选地,组装后去除所述载板的步骤中,包括:组装后去除所述载板和所述键合材料。
可选地,通过物理或者化学方法去除所述键合材料。
本发明第二方面,提供一种芯片组装器件,采用本发明第一方面中任一所述的芯片组装方法制备而成。
本发明技术方案,具有如下优点:
本发明提供的芯片组装方法,包括如下步骤:将键合后的器件晶圆与载片晶圆进行切割,得到若干具有载板的芯片;将所述具有载板的芯片进行组装;组装后去除所述载板。该方法在组装过程中芯片带着载板进行组装,组装完成后再去除载板,因此,在组装过程中由于载板的支撑,芯片的强度增加,解决了芯片在组装过程中因芯片破裂或者翘曲导致组装失效的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中芯片组装方法的一个具体示例的流程图;
图2为本发明实施例中芯片组装方法的另一个具体示例的流程图;
图3为本发明实施例中芯片组装方法的另一个具体示例的流程图;
图4为本发明实施例中芯片组装方法的另一个具体示例的流程图;
图5为本发明实施例中芯片组装方法的另一个具体示例的流程图;
图6-图9为本发明实施例中芯片组装方法的一个具体步骤的示意图;
图10为本发明实施例中芯片组装器件的结构图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华进半导体封装先导技术研发中心有限公司,未经华进半导体封装先导技术研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811127401.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





