[发明专利]用于使用毫米波雷达传感器的占用检测的系统和方法

说明书

本文公开了用于使用毫米波雷达传感器的占用检测的系统和方法。根据一个实施例，一种用于存在检测的方法包括：执行第一扫描，包括使用毫米波雷达传感器扫描第一区域以产生第一集合的雷达数据；基于第一集合的雷达数据识别第一集合的目标；执行第二扫描，包括使用毫米波雷达传感器扫描第一区域的与第一集合的目标相对应的部分，并且对第一区域的该部分执行微多普勒测量；以及基于微多普勒测量，确定第一集合的目标中的哪些目标满足第一集合的标准。

技术领域

本发明一般地涉及用于使用毫米波雷达传感器进行占用检测的系统和方法。

背景技术

由于低成本半导体技术(诸如硅锗(SiGe)和精细几何互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺)的快速发展，近年来在毫米波频域中的应用引起了人们的极大兴趣。高速双极和金属氧化物半导体(MOS)晶体管的可用性使得对用于60GHz、77GHz和80GHz以及100GHz以上的毫米波应用的集成电路的需求日益增长。例如，这样的应用包括汽车雷达系统和多吉比特通信系统。

在一些雷达系统中，雷达和目标之间的距离通过发射频率调制信号、接收频率调制信号的反射以及基于频率调制信号的发射和接收之间的时延和/或频率差而确定距离来被确定。因此，一些雷达系统包括发射RF信号的发射天线、接收RF的接收天线以及用于生成发射信号和接收RF信号的相关RF电路。在一些情况下，可以使用多个天线来使用相位阵列技术来实现定向波束。具有多个芯片集的MIMO配置可用于执行相干和非相干信号处理。

发明内容

根据优选实施例，一种用于存在检测的方法包括：执行第一扫描，包括使用毫米波雷达传感器扫描第一区域以产生第一集合的雷达数据；基于第一集合的雷达数据识别第一集合的目标；执行第二扫描，包括使用毫米波雷达传感器扫描第一区域的与第一集合的目标相对应的部分，并且对第一区域的所述部分执行微多普勒(micro-Doppler)测量；以及基于微多普勒测量来确定第一集合的目标中的哪些目标满足第一集合的标准。

附图说明

为了更全面地理解本发明及其优点，现在参考结合附图的以下描述，附图中：

图1A示出了一个示例性占用检测系统；图1B示出了显示如何通过示例性占用检测系统对对象进行分类的示例的表格；

图2A示出了示例性毫米波雷达传感器的框图，以及图2B和图2C示出了示例性毫米波雷达传感器电路的平面图；

图3A示出了示例性占用检测方法；以及图3B示出了显示如何通过示例性占用检测方法对对象进行分类的示例的表格；

图4A、图4B和图4C示出了根据本发明实施例的发射的线性调频波(chirp)的序列的帧图；

图5A、图5B和图5C示出了示例性占用检测方法的流程图；以及

图6示出了可用于实现示例性占用检测系统的各部分的处理系统的框图。

除非另有说明，否则不同附图中的相应数字和符号通常表示对应的部分。绘制这些附图以清楚地示出优选实施例的相关方面，而不一定按比例绘制。为了更清楚地说明特定实施例，表示相同结构、材料或处理步骤的变化的字母可跟随附图号。

具体实施方式

下面详细讨论当前优选实施例的制造和使用。然而，应当理解，本发明提供了许多可应用的发明概念，这些概念可以在各种特定上下文中具体化。所讨论的具体实施例仅是制造和使用本发明的具体方法，并不限制本发明的范围。

将参照特定上下文(使用毫米波雷达传感器进行占用检测的系统和方法)中的优选实施例来描述本发明。本发明还可应用于执行检测一个或多个对象的存在的其他基于RF的系统和应用。