[发明专利]光学检测设备

说明书

本发明提出一种光学检测设备，其包含光学扫描装置、至少一反射式感测器、传动机件以及处理器。反射式感测器设置于光学扫描装置上，处理器电性连接光学扫描装置、反射式感测器与传动机件。传动机件用于传送待测物，在反射式感测器感测到待测物后，处理器控制传动机件暂停传送待测物，使光学扫描装置得以对待测物进行光学扫描，借此达到检测正确性且不容易产生异常状况。

技术领域

本发明是有关于一种检测设备，且特别是有关于一种光学检测设备。

背景技术

光学检测是运用机器视觉做为检测标准技术，做为改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点。

现行自动X光检测机台，在进板时均是以输送机上的对照式感测器为主。但在实际运用中，若待测物板厚差异，使得对照式感测器无法使用统一阀值，造成操作人员需要针对不同板厚差异去调整感测器阀值。且对照式感测器因有指向角的限制，对于输送机在不同板宽的平整度要求也较高。

然而，现行以输送机上的对照式感测器做为停板感测，当待测物厚度变薄时，因光遮蔽的范围变小，待测物无法停在正确位置，造成检测产生异常。

发明内容

本发明提出一种光学检测设备，改善先前技术的问题。

在本发明的一实施例中，本发明所提出的光学检测设备，其包含光学扫描装置、至少一反射式感测器、传动机件以及处理器。反射式感测器设置于光学扫描装置上，处理器电性连接光学扫描装置、反射式感测器与传动机件。传动机件用于传送待测物，在反射式感测器感测到待测物以后，处理器控制传动机件暂停传送待测物，使光学扫描装置得以对待测物进行光学扫描。

在本发明的一实施例中，光学扫描装置包含X光产生器与X光侦测器。X光产生器位于传动机件的一方，X光侦测器位于传动机件的另一方。X光产生器用于产生X光，X光侦测器用于侦测从X光产生器输出并透过待测物的X光。

在本发明的一实施例中，反射式感测器设置于X光产生器与X光侦测器中至少一者上。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于X光产生器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于X光产生器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，X光产生器具有X光输出口，第一反射式感测器与第二反射式感测器分别设置于X光输出口的相对两侧。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于X光产生器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于X光侦测器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于X光侦测器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于X光产生器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于X光侦测器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于X光侦测器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。