[发明专利]光学检测设备有效
申请号: | 201811123893.3 | 申请日: | 2018-09-26 |
公开(公告)号: | CN110954560B | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
发明(设计)人: | 陈世宗;蔡知典;徐健铭 | 申请(专利权)人: | 德律科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/02 | 分类号: | G01N23/02 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 检测 设备 | ||
1.一种光学检测设备,其特征在于,包含:
一光学扫描装置;
至少一反射式感测器,设置于该光学扫描装置上;
一传动机件,用于传送一待测物;以及
一处理器,电性连接该光学扫描装置、该反射式感测器与该传动机件,在该反射式感测器感测到该待测物以后,该处理器控制该传动机件暂停传送该待测物,使该光学扫描装置得以对该待测物进行光学扫描,
该光学扫描装置包含:
一X光产生器,位于该传动机件的一方,该X光产生器用于产生X光;以及
一X光侦测器,位于该传动机件的另一方,该X光侦测器用于侦测从该X光产生器输出并透过该待测物的该X光,该反射式感测器设置于该X光产生器与该X光侦测器中至少一者上,该处理器透过该X光产生器与该X光侦测器确认该待测物的实际停止位置与系统预设目标位置之间的偏移量,该处理器透过该传动机件微调该待测物的位置或是移动该X光产生器与该X光侦测器中至少一者。
2.如权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,该反射式感测器包含:
一第一反射式感测器,设置于该X光产生器上,当该第一反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件减速传送该待测物:以及
一第二反射式感测器,设置于该X光产生器上,该第二反射式感测器与该第一反射式感测器彼此相间隔,当该第二反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件暂停传送该待测物。
3.如权利要求2所述的光学检测设备,其特征在于,该X光产生器具有一X光输出口,该第一反射式感测器与该第二反射式感测器分别设置于该X光输出口的相对两侧。
4.如权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,该反射式感测器包含:
一第一反射式感测器,设置于该X光产生器上,当该第一反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件减速传送该待测物:以及
一第二反射式感测器,设置于该X光侦测器上,该第二反射式感测器与该第一反射式感测器彼此相间隔,当该第二反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件暂停传送该待测物。
5.如权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,该反射式感测器包含:
一第一反射式感测器,设置于该X光侦测器上,当该第一反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件减速传送该待测物:以及
一第二反射式感测器,设置于该X光产生器上,该第二反射式感测器与该第一反射式感测器彼此相间隔,当该第二反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件暂停传送该待测物。
6.如权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,该反射式感测器包含:
一第一反射式感测器,设置于该X光侦测器上,当该第一反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件减速传送该待测物:以及
一第二反射式感测器,设置于该X光侦测器上,该第二反射式感测器与该第一反射式感测器彼此相间隔,当该第二反射式感测器感测到该待测物时,该处理器控制该传动机件暂停传送该待测物。
7.如权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,该反射式感测器为单一个反射式感测器,该单一个反射式感测器设置于该X光产生器或该X光侦测器上,当该单一个反射式感测器感测到该待测物时,该处理器依据该传动机件的传动速度预判一停止时间点,进而于该停止时间点令该传动机件暂停传送该待测物。
8.如权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,该待测物为一电路板。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德律科技股份有限公司,未经德律科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811123893.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。